Моделирование ступенчатой поверхности рентгеновского дифрактора высокого разрешения
Мазурицкий М.И.1, Латуш Е.М.1, Солдатов А.В.1, Угольницкий Г.А.1, Ляшенко В.Л.1, Марчелли А.1
1Ростовский государственный университет
Поступила в редакцию: 18 января 2000 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2000 г.
Проведен систематический анализ трех возможных схем построения ступенчатого рентгеновского дифрактора высокого разрешения. В первой схеме все ступени имеют одинаковую угловую ширину, во второй схеме все ступени имеют одинаковую высоту - расстояние от края одной ступени до начала другой. В третьей схеме используется симметричный способ построения ступенек. В этом случае расстояние от края одной ступеньки до окружности фокусировки равно расстоянию от окружности фокусировки до начала следующей ступеньки. Показано, что наиболее устойчивые характеристики имеют первая и третья схемы.
- Bonnelle C., Mande C. Advances in x-ray spectroscopy. Oxford and New York: Pergamon Press, 1982. 423 p
- Freund A.K. X-ray Optics. Grenoble: ESRF, 1987. 54 p
- Michette A.G. Optical System for Soft X ray. New York: Plenum Press, 1986. 351 p
- DuMond J.W.M., Kirpatrick A. // Rev. Sci. Instrum. 1930. V. 1. P. 88
- Johann H.H. // Z. Phys. 1931. V. 69. P. 185
- Cauchois Y. // Phys. Radium. 1932. V. 3. P. 320
- Von Hamos I. // Naturwiss. 1932. V. 20. P. 705
- Johannson T. // Z. Phys. 1933. V. 82. P. 507
- Wittry D.B., Sun S.J. // Appl. Phys. 1991. V. 69. N 7. P. 3886--3892
- Marcelli A., Soldatov A.V., Mazuritsky M.I. European Patent Nr. 97830282.6--2208, deposited by INFN on 06/11/97, published on 12/16/98
- Marcelli A., Mazuritsky M.I., Soldatov A.V. // SPIE prosceedings. Wash. 1998. V. 3448. P. 210--217
- Мазурицкий М.И., Солдатов А.В., Латуш Е.М. и др. // Письма в ЖТФ. 1999. Т. 25. В. 19. С. 11--16
- Рабочий вариант программы, написанной среде DELPHI, можно найти в Интернете по адресу http://www.projectx. aaanet.ru
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
