Исследование образцов с тонкими пленками методом фототеплового отражения с гармоническим возбуждением с применением гетеродинирования возбуждающего и пробного излучений
Лапшин К.В.1, Петровский А.Н.1, Зуев В.В.1, Кирюхин А.Д.1, Лабузов Д.В.1
1Московский инженерно-физический институт (технический университет)
Поступила в редакцию: 7 июня 1999 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 1999 г.
Предложен и экспериментально проверен способ определения фазового сдвига и тепловых параметров тонких пленок.
- Зуев В.В., Петровский А.Н., Сальник А.О. Анализ свойств полупроводников методом объемной фотодефлекционной спектроскопии. Препринт МИФИ. N 046--87. M., 1987. 24 c
- Физическая энциклопедия / Гл. ред. А.М. Прохоров. Т. 1. М.: Сов. энцикл., 1988
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук