Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 1999, выпуск 4 » Статья стр. 68
<<<>>>
Исследование неоднородностей в тонких пленках высокотемпературных сверхпроводников методами сканирующей зондовой микроскопии
Воробьев А.К.1, Востоков Н.В.1, Гапонов С.В.1, Клюенков Е.Б.1, Миронов В.Л.1
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия
Поступила в редакцию: 18 августа 1998 г.
Выставление онлайн: 20 января 1999 г.
PDF версия
Методами сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии исследованы неоднородности в тонких пленках высокотемпературных сверхпроводников Y-Ba-Cu-O, обусловленные преципитатами вторичных фаз. Установлено, что пленки Y-Ba-Cu-O с высокими интегральными критическими параметрами могут представлять собой сложную гетерогенную систему, содержащую области, отличающиеся по толщине и электрическим свойствам. Показано, что такие неоднородности могут существенно влиять на параметры приборов, формируемых на основе пленок.
  1. Verbist K., Vasiliev A.L., Van Tendeloo G. // Appl. Phys. Lett. 1995. V. 66 (11). P. 1424--1426
  2. Rauch W., Behner H., Gieres G. et al. // Physica C. 1992. V. 198. P. 389--395
  3. Zhenge Han, Selinder T.I., Helmersson U. // J. Appl. Phys. 1994. V. 75 (4). P. 2020--2025
  4. Drozdov Yu.N., Gaponov S.V., Gusev S.A. et al. // Supercond. Sci. Technol. 1996. V. 9. A166--A169
  5. Koguchi Kazumasa, Matsumoto Takuya, Kawai Tomoji // Science. 1995. V. 267. N 5194. P. 71--73
  6. Dam B., Koeman N.J., Rector J.H. et al. // Physica C. 1996. 261. N 1--2. P. 1--11
  7. Wu K.H., Wang R.S., Chen S.P. et al. // Appl. Phys. Lett. 1996. V. 69. N 3. P. 421--423
  8. Воробьева А.К., Клюенков Е.В., Таланов В.В. и др. // Письма в ЖТФ. 1993. Т. 19. В. 17. С. 785--798
  9. Drozdov Yu.N. Gaponov S.V., Gusev S.A. et al. // IEEE Trans. on Appl. Supercond. 1997. V. 7. N 2. P. 1642--1645
  10. Drozdov Y.N., Gaponov S.V., Gusev S.A. et al. // ISEC'97. Extended Abstract Book. 1997. V. 2. P. 49--51
  11. Волгунов Д.Г., Гапонов С.В., Дряхлушин В.Ф. и др. // Приборы и техника эксперимента. 1998. N 2. С. 132--137
  12. Alarco J.A., Brorsson J., Olin H. et al. // J. Appl. Phys. 1994. V. 75 (6). P. 3202--3204

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme