Исследование поверхности пленок алмазоподобного углерода, легированного медью
Иванов-Омский В.И.1, Ястребов С.Г.1, Голубок А.О.1, Масалов С.А.1, Розанов В.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, С.-Петербург Институт аналитического приборостроения РАН, С.-Петербург
Поступила в редакцию: 25 марта 1998 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 1998 г.
Сообщается об исследовании поверхности слоев алмазоподобного углерода, легированного медью, методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Обнаружено, что введение меди модифицирует как микроструктуру, так и электронные свойства слоев.
- Angus J.C., Hayman C.C. // Science. 1998. V. 241. P. 913--921
- Amaratunga Gehan A.J., Silva S.R.P. // Appl. Phys. Lett. 1996. V. 68 (18). N 96. P. 2529
- Ivanov-Omskii V.I., Tolmatchev A.V., Yastrebov S.G. // Phil. Mag. 1996. B 73. P. 715--722
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2023 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук