Влияние коррозии металлического электрода на поляризационную чувствительность фотодетектора на основе барьера Шоттки Ag--GaAs(InP) с гофрированной границей раздела
Дмитрук Н.Л.1, Маева О.Ю.1, Мамыкин С.В.1, Фурсенко О.В.1, Яструбчак О.Б.1
1Институт физики полупроводников НАН Украины, Киев
Поступила в редакцию: 12 августа 1997 г.
Выставление онлайн: 19 марта 1998 г.
Рассмотрено влияние коррозии металлического электрода (Ag) как на общий фотоответ барьерной структуры с гофрированной границей раздела, так и на его чаcть, связанную с возбуждением поверхностного поляритона. С помощью вольт-амперных и эллипсометрических измерений рассмотрено изменение параметров барьера и толщины верхнего электрода во времени.
- Беляков Л.В., Сресели О.М. // ФТП. 1991. Т. 25. В. 8. С. 1281--1296
- Антонюк В.Н., Дмитрук Н.Л., Медведева М.Ф. Эллипсометрия в науке и технике. Новосибирск; ИФП СО АН СССР. 1987. С. 66--71
- Wad O., Majerfeld A., Robson P. // Sol. St. Electron. 1982. V. 25. P. 381--387
- Дмитрук Н.Л., Литовченко В.Г., Стрижевский В.Л. Поверхностные поляритоны в полупроводниках и диэлектриках. Киев: Наук. думка, 1989. 376 с
- Holst K., Raether H. // Opt. Commun. 1970. V. 2. N 7. P. 312--316
- Kendelenicz T., Newman N., List R.S. et al. // J. Vac. Sci. Technol. B. 1985. V. 3. P. 1206--1211
- Burge D.K., Bennett J.M., Peck R.L. et al. // Surf. Sci. 1969. V. 16. P. 303--320
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук