Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Рентгеновский контроль заполнения кластерных решеток на основе синтетических опалов
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Поступила в редакцию: 15 декабря 1996 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1997 г.
Предлагается проводить контроль заполнения кластерных решеток на основе синтетических опалов по измерениям поглощения рентгеновских лучей. Демонстрируется зависимость степени заполнения пор в опалах от способа введения Jn, Te и HgSe.
- Балакирев В.Г., Богомолов В.Н., Журавлев В.В. и др. // Кристаллография. 1993 Т. 38. В.3. С. 111--120
- Богомолов В.Н., Ктиторов С.А., Курдюков Д.А. и др. // Письма в ЖЭТФ. 1995. Т. 61. В. 9. С. 738--742
- Богомолов В.Н., Курдюков Д.А., Прокофьев А.В. и др. // Письма в ЖЭТФ. 1996. Т. 63. В. 7. С. 496--501
- Ратников В.В. // ФТТ. 1997 (в печати)
- Гинье А. Рентгенография кристаллов. М.: ГИФМЛ, 1961. 604 с
- Hamilton H. // Semicond. Prod. and Solid State Technology. 1954. V. 7. N 7. P. 15--21
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
