"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Фуллерены как изображающие элементы иглы атомно-силового микроскопа
Дедков Г.В.1
1Кабардино-Балкарский государственный университет, Нальчик
Поступила в редакцию: 29 января 1997 г.
Выставление онлайн: 20 мая 1997 г.

Предлагается использовать молекулы фуллерена C60 в качестве изображающих элементов иглы атомно-силового микроскопа. Получены тестовые компьютерные изображения участков неискаженной поверхности графита и с вакансиями.
  • Binnig G., Quate C.F., Gerber Ch. // Phys. Rev. Lett. 1986. V. 12. P. 930
  • Sarid D. Scanning Force Microscopy with Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces, Oxford U. Press, New York, 1991
  • Ohnesorge F., Binnig G. // Science. 1993. V. 260. P. 1451
  • Meyer G., Amer N.M. // Appl. Phys. Lett. 1990. V. 57. P. 2089
  • Brushan B., Israelachvili J.N., Landman U. // Monthly Nature. 1995. V. 3. N 4. P. 63
  • Gould S.A., Burke K., Hansma P.K. // Phys. Rev. 1989. B. 40. N 8. P. 5363
  • Благов Е.В., Климчицкая Г.Л., Лобашев А.А., Мостепаненко В.П. // Письма в ЖТФ. 1995. Т. 21. В. 3. С. 73
  • Park Scientific Inst. Sunnyvale, CA, USA
  • Clevelend J.P., Radmacher M., Hansma P.K. // Forces in Scanning Probe Methods / Eds. H.J. Gunterodt (et al.). Kluwer Acad. Publishers, Netherland, 1995
  • Елецкий А.В., Смирнов В.М. // УФН. 1995. Т. 165. N 9. С. 978
  • Gordon R.G., Kim Y.S. // J. Chem. Phys. 1972. V. 56. P. 3122
  • Дедков Г.В. // УФН. 1995. Т. 165. N 8. С. 919
  • Girifalco L.A. // J. Phys. Chem. 1992. V. 96. P. 858
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.