Получение спектрально-селективных рентгеновских изображений плазмы неона с временным разрешением на установке плазменный фокус SPEED2
Бобашев С.В.1, Симановский Д.М.1, Деккер Г.1, Кис В.1, Ревекамп П.1, Золь Х.1, Бернтин У.1
1Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН, С.-Петербург Университет им. Генриха Гейне, Дюссельдорф, Германия
Поступила в редакцию: 27 декабря 1996 г.
Выставление онлайн: 19 марта 1997 г.
В работе проведено исследование динамики пинчевания плазмы неона на установке SPEED2 путем регистрации спектрально-селективных рентгеновских изображений плазмы с высоким пространственным и временным разрешением. Получены серии изображений плазменного фокуса в линиях излучения водородо- и гелиеподобных ионов неона на длинах волн lambda=1.21 нм и lambda=1.35 нм на различных стадиях сжатия плазмы. Подтвержден устойчивый характер разряда в плазме неона. Установлено, что на заключительной стадии пинчевания средняя зарядность ионов неона быстро увеличивается от +9 до +10 и по достижении диаметра пинча менее 1 мм плазма становится полностью ионизованной.
- Decker G., Kies W., Malzig M., van Calker C., Ziethen G. // Nucl. Instrum. Methods. 1986. A249. P. 477
- Platonov Yu.Ya., Salashchenko N.N., Simanovskii D.M., Roewekamp P., Decker G., Kies W. // Short living plasma and its diagnostics. Prague. 1995. P. 122--127
- Decker G., Kies W., Nadolny R., Roewekamp P., Schmitz F., Ziethen G., Koshelev K.N., Sidelnikov Yu.V., Sopkin Yu.V. // Plasma Sources Sci. Techn. 1996. V. 5(1). P. 112--115
- Koshelev K.N., Pereira N.R. // J. Appl. Phys. 1996. V. 69. P. R21
- Bobashev S.V., Simanovskii D.M., Platonov Yu.Ya., Roewekamp P., Decker G., Kies W. // Plasma Sources Sci. Tech. 1996. V. 5(3). P. 578--581
- Чен Т., Бушуев В.А., Кузьмин Р.Н. // ЖТФ. 1990. Т. 60(10). С. 60--63
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
