Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2014, выпуск 8 » Статья стр. 23
<<<>>>
Исследование фотоответа кремниевого мультипиксельного счетчика фотонов в вакуумном ультрафиолете
Забродский В.В.1, Аруев П.Н.1, Белик В.П.1, Бер Б.Я.1, Бобашев С.В.1, Петренко М.В.1, Соболев Н.А.1, Филимонов В.В.1, Шварц М.З.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: sildet@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 3 декабря 2013 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2014 г.
PDF версия
Исследован фотоответ кремниевого мультипиксельного счетчика фотонов, работающего в режиме гейгеровского пробоя на длинах волн lambda=115, 121, 128, 160 и 175 nm. Продемонстрирована возможность регистрации излучения в режиме счета фотонов при комнатной температуре на исследованных длинах волн с эффективностью порядка 2%.
  1. Sadygov Z. et al. // Nucl. Instr. and Meth. A. 2006. V. 567. P. 70
  2. Collazuol et al. // Nucl. Instr. and Meth. A. 2007. V. 581 P. 461
  3. Musienko Y. // Nucl. Instr. and Meth. A. 2009. V. 598. P. 213--216
  4. Haitz R.H. // J. Appl. Phys. 1965. V. 36. N 10
  5. Mahdi Aminia et al. // Proc. SPIE. 2012. V. 8375. P. 837 50Q
  6. Xin X. et al. // IEE Electronics Lett. 2005. V. 41 (4). P. 212
  7. Sato K et al. // Nuclear Instruments \& Methods in Physics Research. A. 2013. http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2013.06.054i
  8. Handbooks of Optical Constants of Solids I / E.D. Palik (ed.). USA: Academic Press, 1998
  9. Sze S.M. Physics of Semiconductor Devices (3rd ed.). New Jersey: John Wiley \& Sons, 2007
  10. Goldberg Yu.A. et al. // Semiconductors. 1999. V. 33. P. 343
  11. Zabrodsky V.V. et al. // Tech. Phys. Lett. 2012. V. 38. N 9. P. 812--815
  12. Shvarts M.Z. et al. // Proc. 20th EU PVSEC. Barcelona, 2005. P. 278--281
  13. Aruev P. et al. // 273 PTB-Seminar VUV and EUV Metrology. Berlin, 2013

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme