"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Исследование структуры тонких эпитаксиальных слоев CaF2 на Si (111) методами примесной фотолюминесценции и стоячих рентгеновских волн
Альварес Х.К., М.В. А.Ю. Казимиров, Крейнес А.Я., Соколов Н.С., Фидченко Т.Ю., Яковлев Н.Л.
Поступила в редакцию: 6 августа 1991 г.
Выставление онлайн: 20 августа 1991 г.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.