"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
Оптический метод определения толщины сверхтонких слоев плоскослоистых периодических структур
Адамсон П.В.1
1Институт физики АН Эстонии, Тарту
Поступила в редакцию: 10 мая 1991 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1991 г.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.