Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Сверхвысокое разрешение при послойном Оже-анализе гетероструктур In xGa 1- xAs/GaAs с глубоко залегающими квантовыми ямами
1Институт физики микроструктур Российской академии наук, Нижний Новгород, Россия 
Поступила в редакцию: 22 июля 1996 г.
Выставление онлайн: 20 августа 1996 г.
- Hofmann S. J. Vac. Sci. Technol. 1991. V. A9. N 3. P. 1466--1476
- Wittmaack K. Vacuum. 1984. V. 34. N 1--2. P. 119--137
- Mathieu H.J. Topics in Current Physics. V. 37 / Thin Film and Depth Profile Analysis. Springer--Verlag. Berlin, 1984. Chap. 3
- Hofmann S. Practical Surface Analisis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy / Ed. by D. Briggs, M.P. Seah.J. Wiley \& Sons Ltd. 1983. Chap. 4. (Перевод: Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса и М.П. Сиха. М.: Мир, 1987. 598 с.)
- Aleshkin V.Ya., Gusev S.A., Danyltsev V.M. et al. Nanostructures: Physics and Technology / International Symposium. Abstracts. St. Petersburg. Russia, June 24--28, 1996. P. 148--150
- Andreev S.S., Akhsakhalyan A.D., Drozdov M.N. et al. Thin Solid Films. 1995. V. 263. P. 169--174
- Дроздов М.Н., Данильцев В.М., Салащенко Н.Н. и др. Письма в ЖТФ. 1995. Т. 21. В. 18. С. 1--7
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
