К вопросу о форме спектральной линии Si-детекторов ионов
Ильяшенко И.Н., Строкан Н.Б.
Поступила в редакцию: 23 мая 1996 г.
Выставление онлайн: 20 июля 1996 г.
- Amoudry F., Burger P. Nucl. Instr. Meth. 1984. V. 223. N 2/3. P. 360--367
- Еремин В.К., Вербицкая Е.М., Строкан Н.Б., Суханов В.Л., Маляренко А.М. ЖТФ. 1986. Т. 56. В. 10. С. 1987--1989
- Вербицкая Е.М., Еремин В.К., Маляренко А.М., Строкан Н.Б., Суханов В.Л. Письма в ЖТФ. 1986. Т. 12. В. 20. С. 1254--1258
- Lindhard J., Nielsen V. Phys. Lett. 1962. V. 2. N 5. P. 209--211
- Ion Implantation, Science and Technology / Ed. J. F. Ziegler. Academic Press, 1988. P. 498
- Ремизович В.С., Рогозкин Д.Б., Рязанов М.И. Флуктуации пробегов заряженных частиц. М.: Энергоатомиздат, 1988. 240 с
- Drummod W.E., Moll J.L. J. Appl. Phys. 1971. V. 42. N 13. P. 5556--5562
- Пятков Ю.В. Разработка методов определения предельных спектрометрических характеристик ППД. М.: МИФИ, 1977. 111 с
- Eberhardt J.E. Nucl. Instr. Meth. 1970. V. 80. N 2. P. 291--292
- Steinbauer E., Bauer P., Geretschlager M., Bortels G., Biersack J.P., Burger P. Nucl. Instr. Meth. 1994. B 85. P. 642--649
- Hartmann R., Lechner P., Soltan H., Struder L. Abstracts 7th European Symposium on Semiconductor Detectors, Elmau, Germany, May 1995. P. 46
- Haines E.L., Whitehead A.B. Rev. Sci. Instr. 1966. V. 37. P. 190--194
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук