Послойный Оже-анализ сверхвысокого разрешения: проблема минимизации аппаратурных погрешностей
Дроздов М.Н., Данильцев В.М., Салащенко Н.Н., Полушкин Н.И., Хрыкин О.И., Шашкин В.И.
Поступила в редакцию: 8 июня 1995 г.
Выставление онлайн: 20 августа 1995 г.
- Hofmann S. Practical Surface Analisis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy / Ed. by D. Briggs, M.P. Seach. J. Wiley \& Sons Ltd. 1983. Chap. 4 (Перевод: Анализ поверхности методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса и М.П. Сиха. М.: Мир, 1987. 598 с.)
- Hofmann S. J. Vac. Sci. Technol. 1991. V. A9. N 3. P. 1466--1476
- Powell C.J., Seah M.P. J. Vac. Sci. Technol. 1990. V.A8. N 2. P. 735--763
- Mathieu H.J., Landolt D. Surf. Interf. Anal. 1983. V. 5. N 2. P. 77--82
- Malherbe J.B., Sanz J.M., Hofmann S. Surf. Interf. Anal. 1981. V. 3. N 6. P. 235--239
- Wehner G.K. Methods of Surface Analisis / Ed. by A.W. Czanderna. Elsevier, Amsterdam, 1975. Chap. 1. (Перевод: \it Зандерна А. Методы анализа поверхностей. М.: Мир, 1979. 582 с.)
- Holloway D.M. J. Vac. Sci. Technol. 1975. V. 12. N 1. P. 392--399
- Springer R.W., Haas T.W., Grant J.T., Hooker M.P. Rev. Sci. Instrum. 1974. V. 45. N 9. P. 1113--1114
- Anthony M.T. In Ref. 1
- Palmberg P.W. J. Vac. Sci. Technol. 1975. V. 12. N 1. P. 379--384
- Peacock D.C., Pritton M., Roberts R. Vacuum. 1984. V. 34. N 5. P. 497--507
- Erickson N.E., Powell C.J. J. Vac. Sci. Technol. 1986. V.A4. N 3. P. 1551--1556
- Seah M.P., Mathieu H.J. Rev. Sci. Instrum. 1985. V. 56. N 5. P. 703--711
- Зашквара В.В., Корсунский М.И., Лавров В.П., Редькин В.С. ЖТФ. 1971. Т. 41. В. 1. С. 187--192
- Воронин В.А., Дроздов М.Н., Звонков Б.Н., Овсянников М.Ю., Цыганов А.Б. Многослойные полупроводниковые структуры и сверхрешетки. Диагностика, нелинейные высокочастотные свойства. ИПФ АН СССР. Н.Новгород, 1990. С. 165--171
- Воронин В.А., Годованик И.А., Голубев В.Н., Дроздов М.Н., Климов А.Ю., Клюенков Е.Б., Салащенко Е.Н. Письма в ЖТФ. 1991. Т. 17. В. 16. С. 22--25
- Andreev S.S., Akhsakhalyan A.D., Drozdov M.N., Polushkin N.I., Salashchenko N.N. Thin Solid Films 1995. (to be published)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук