"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Деградация межфазной границы Si--SiO 2 при полевых и радиационных воздействиях
Климов И.В., Листопадов Ю.М., Назаров А.И.
Поступила в редакцию: 7 ноября 1994 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 1995 г.

  1. Nicollian E.N., Brews J.R. MOS Physics and Technology. N.Y., Pergamon Press, 1982. P. 900
  2. Назаров А.И., Гуртов В.А., Кузнецов С.Н., Сергеев М.С. Микроэлектроника. 1991. Т. 20. В. 3. С. 36--43
  3. Lai S.K. Appl. Phys. Lett. 1981. V. 39. N 1. P. 58--60
  4. Fischetti M.V., Di Maria D.J., Brorson S.D., Thies T.N., Kirtley J.R. Phys. Rev. B. 1985. V. 31. N 12. P. 8124--8142
  5. Назаров А.И., Листопадов Ю.М. Микроэлектроника. 1994. Т. 23. В. 4. С. 67--73

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.