"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Дифференциальная отражательная спектроскопия поглощающих сверхтонких слоев на прозрачных подложках с двумя зеркально отражающими поверхностями при нормальном падении света
Адамсон П.В.1
1Институт физики Тарту, Эстония
Поступила в редакцию: 11 января 1994 г.
Выставление онлайн: 19 марта 1994 г.

  1. Эллипсометрия --- метод исследования поверхности / Под ред. А.В.Ржанова. Новосибирск: Наука, 1983. 180 с
  2. Дмитрук Н.Л., Литовченко В.Г., Стрижевский В.Л. Поверхностные поляритоны в полупроводниках и диэлектриках. Киев: Наукова Думка, 1989. 376 с
  3. Aspnes D.E. SPIE Proc. 1990. V. 1285. P. 2--13
  4. Cricenti A., Selci S., Ciccacci F. et al. Physica Scripta. 1988.V. 38. P. 199--203
  5. Berkovits V.L., Kiselev V.A., Safarov V.I. Surf. Sci. 1989. V. 211/212. P. 489--502
  6. Aspnes D.E, Chang Y.C., Studna A.A. et al. Phys. Rev. Lett. 1990. V. 64. N 2. P. 192--195
  7. Kamiya I., Aspnes D.E., Florez L.T., Harboson J.P. Phys. Rev. B. 1992. V. 46. N 24. P. 15894--15904
  8. Aspnes D.E., Harbison J.P., Studna A.A., Florez L.T. Phys. Rev. Lett. 1987. V. 59. N 15. P. 1687--1690
  9. Acher O., Koch S.M., Omnes F. et al. J. Appl. Phys. 1990. V. 68. N 7. P. 3564--3577
  10. Deppert K., Jonsson J., Samuelon L. Appl. Phys. Lett. 1992. V. 61. N 13. P. 1558--1560
  11. Amstrong S.R., Hoare R.D., Pemble M.E. et al. J. Crystal Growth. 1992. V. 124. P. 37--43
  12. Kobayashi N., Kovayashi Y. Thin Solid Films. 1993. V. 225. P. 32--39
  13. McIntyre J.D.E., Aspnes D.E. Surf. Sci. 1971.V. 24. P. 417--434
  14. Physics of Thin Films. N.Y.: Academic Press, 1963
  15. Schaich W.L., Chen W. Phys. Rev. B. 1989. V. 39. N 15. P. 10714--10724
  16. Schaich W.L., Chen W. Phys. Rev. B. 1989. V. 40. N 8. P. 5350--5358
  17. Chang Y.-C., Aspnes D.E. Phys. Rev. B. 1990. V. 41. N 17. P. 12002--12012

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.