Egelhoff W.F., Tibbots G.G. Phys. Rev. B. 1979. V. 19. P. 502
Egelhoff W.F. Surf. Sci. Rep. 1987. V. 6. P. 333
Apai G., Lee S.--T., Mason M.G. Sol. St. Comm. 1981.V. 37. P. 213
Oberli L., Menon R. et al. Surf. Sci. 1981. V. 101. P. 301
Crescenzi M.De, Diociaivti M. et al. Surf. Sci. 1986. V. 178. P. 282
Vijayakrishan V., Rao C.N.R. Surf. Sci. Lett. 1991. V. 255. P. L516
Di Cenzo S.B., Wertheim G.K. Comm. Sol. St. Phys. 1985. V. 11. P. 203
Wertheim G.K., Di Cenzo S.B. et al. Phys. Rev. B. 1986. V. 33. P. 5384
Kuhrf Ch., Harsdorff M. Surf. Sci. 1991. V. 245. P. 173
Hamilton J.F., Logel P.C. Thin Sol. Film. 1973. V. 16. P. 49
Hamilton J.F., Logel P.C. Thin Sol. Film. 1974. V. 23. P. 89
Wertheim G.K. Z. Phys. B. 1984. V. 66. P. 53
Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. / Под ред. Д.Бриггса и М.Сиха. М.: Мир, 1987
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
