"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
О возможности исследования локального энергетического спектра тонких полупроводниковых пленок с помощью новой конструкции низкотемпературного сканирующего туннельного микроскопа
Давыдов Д.Н.1, Тимофеев В.А.1, Грохольский А.С.1, Рыков С.А.1, Немов С.А.1, Захарова И.Б.1
1Санкт-Петербургский государственный технический университет
Поступила в редакцию: 4 октября 1993 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 1993 г.

  1. Yi Chiy, M.L. Reed, T.E. Schlesinger Appl. Phys. Lett., 1992. V. 60. N 14. P. 1715
  2. Голубок А.О., Давыдов Д.Н., Мусихина Е.П., Кайданов В.И., Рыков С.А. Письма в ЖТФ. 1991. Т. 17. В. 2. С. 36--40
  3. Renner C.H., Nidermann Ph.,, Kent A.D., Fisher O. Rev. Sci. Instrum. 1990. V. 61. P. 965
  4. Agrait N. Rev. Sci. Instrum. 1992. V. 63. P. 263
  5. Pohl D.W. IBM J. Res. Develop. 1986. V. 30. N 4. P. 417
  6. Неустроев Л.И., Осипов В.В. ФТП. 1986. Т. 20. В. 1. С. 59--65
  7. Равич Ю.И., Ефимова Б.А., Смирнов И.А. Методы исследования полупроводников в применении к халькогенидам свинца PbTe, PbSe и PbS. M.: Наука, 1968. 384 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.