Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 1993, выпуск 18 » Статья стр. 27
<<<>>>
Исследование изменений зарядового состояния структур Si--SiO 2 методом полевых циклов в системе с элекролитическим контактом
Барабан А.П.1, Булавинов В.В.1, Трошихин А.Г.1
1С.-Петербургский государственный университет
Поступила в редакцию: 22 июля 1993 г.
Выставление онлайн: 20 августа 1993 г.
PDF версия
  1. Барабан А.П., Булавинов В.В., Коноров П.П. Электроника слоев SiO2 на кремнии. Л.: ЛГУ. 1988. 304 с
  2. Технология СБИС. Кн. 1 / Под ред. Зи С. М.: Мир. 1986. 404 с
  3. Барабан А.П., Булавинов В.В., Коноров П.П. Письма в ЖТФ. 1988. Т. 14. В. 5. С. 806--809
  4. Барабан А.П., Булавинов В.В. ЖТФ. 1984. Т. 54. В. 12. С. 2371--2373

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme