Вышедшие номера
Получение и использование позиционных меток в сканирующей зондовой микроскопии
Лозовский В.Н.1, Чеботарев С.Н.1, Ирха В.А.1, Валов Г.В.1
1Южно-Российский государственный университет (Новочеркасский политехнический институт), Новочеркасск
Email: v-irx@rambler.ru
Поступила в редакцию: 19 марта 2010 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2010 г.

Описывается разработанный авторами способ получения на поверхности 1D- и 2D-объектов специальных позиционных меток, позволяющих фиксировать локальные области исследований с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Демонстрируется эффективность использования позиционных меток в практике зондовых исследований на уровне наномасштабов.