Получение и использование позиционных меток в сканирующей зондовой микроскопии
Лозовский В.Н.1, Чеботарев С.Н.1, Ирха В.А.1, Валов Г.В.1
1Южно-Российский государственный университет (Новочеркасский политехнический институт), Новочеркасск
Email: v-irx@rambler.ru
Поступила в редакцию: 19 марта 2010 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2010 г.
Описывается разработанный авторами способ получения на поверхности 1D- и 2D-объектов специальных позиционных меток, позволяющих фиксировать локальные области исследований с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Демонстрируется эффективность использования позиционных меток в практике зондовых исследований на уровне наномасштабов.
- Lemoine P., Roy S.S., Quinn J.P., Maguire P.D., McLaughlin J.A.D. // Appl. Phys. A-materials science \& Processing. 2007. V. 86. N 4. P. 451--456
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук