Оптически стимулированная люминесценция кристаллов alpha-Al2O3, облученных протонами
Кружалов А.В.1, Мильман И.И.1, Нешев Ф.Г.1, Ревков И.Г.1
1Уральский государственный технический университет, Екатеринбург
Email: igor.milman@dpt.ustu.ru
Поступила в редакцию: 10 января 2008 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2008 г.
Приведены результаты первых отечественных экспериментальных исследований оптически стимулированной люминесценции (ОСЛ) образцов серийных термолюминесцентных (ТЛ) детекторов на основе анион-дефектного корунда, облученных протонами. Показаны принципиальная возможность комбинированного применения явлений ОСЛ и ТЛ для дозовой диагностики пучков ускоренных заряженных частиц и перспективность использования исследованных явлений в радиационной физике. PACS: 29.40.Wk, 78.4545.+h, 78.60.Kn
- Botter-Jensen L., McKeever S.W.S., Wintle A.G. // Opticalle stimulated luminescence dosimetry. Amsterdam: Elsevier, 2003
- www.lamdauer.com
- Kulharni M.S., Mishra D.R., Sharma D.N. // Nucl. Instr. and Meth. in Phys. Res. B. 2007. doi: 10.1016/j. nimb. 2007.05.013
- Mittani J.C.R., Silva A.A.R., Vanhavere F. et al. // Nucl. Instr. and Meth. in Phys. Res. B. 2007. doi: 10.1016/j. nimb. 2007.03.083. C. 1--9
- McKever S.W.S., Benton E.R., Gaza R. et al // Book of Abstract 15th Intern. Conf. on Solid State Dosimetrty. Delft,The Netherlands, Julу 8--13, 2007. С. 35
- Edmund J.M., Anderson C.E., Greilich S. et al. // Nucl. Instr. and Meth. A. 2007. doi: 10.1016/j. nima. 2007.05.086. C. 1--4
- Akselrod M.S., Botter-Jensen L., McKeever S.W.S. // Radiation Measurements. 2007.doi:10.1016/j radmeas. 2007.01.004. C. 211--254
- Мильман И.И., Ревков И.Г., Моисейкин Е.В. // Патент РФ. N 2310889. 2007
- Pagonis V., Kitis G., Furetta C. // Numerical and Practical Exersises in Thermoluminescence. USA: Springer, 2006
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2023 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук