Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2008, выпуск 13 » Статья стр. 56
<<<>>>
Новые возможности нанодиагностики структуры поверхности с помощью стоячих рентгеновских волн в условиях непрерывного резонансного комбинационного рассеяния рентгеновского излучения
Зельцер И.А.1, Кукушкин С.А.1, Моос Е.Н.1
1Рязанский государственный университет им. С.А. Есенина, Рязань, Россия
Email: e_moos@mail.ru
Поступила в редакцию: 6 июля 2007 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2008 г.
PDF версия
Рассмотрены основные принципы, новые возможности и приборная реализация структурно-чувствительной спектроскопии поверхности конденсированных сред с помощью стоячих рентгеновских волн в случае регистрации эмиссии электронов под действием непрерывного резонансного комбинационного (рамановского) рассеяния рентгеновского излучения. Показано, что перспективы развития и применения новых возможностей метода стоячих рентгеновских волн для исследования поверхности связаны с созданием комплекса экспериментального оборудования и специализированных источников синхротронного излучения. PACS: 61.10.Dp, 68.65.La
  1. Ковальчук М.В., Кон В.Г. // УФН. 1986. Т. 149. В. 1. С. 69--103
  2. Ковальчук М.В., Шилин Ю.Н., Денисов А.Г., Гравшин Ю.М., Зельцер И.А., Ляпин А.М., Сеничкина P.C. // ПТЭ. 1987. Т. 3. С. 191--196
  3. Durbin S.M., Berman L.E., Batterman B.W., Blakely J.M. // Phys. Rev. Lett. 1986. V. 56. N 3. P. 236--246
  4. Durbin S.M., Berman L.E., Batterman B.W., Blakely J.M. // Phys. Rev. B. 1986. V. 33. N 6. P. 4402--4412
  5. Афанасьев А.М., Перегудов В.Н. // Докл. АН СССР. 1988. Т. 301. N 5. С. 1098--1104
  6. Бушуев В.А., Кузьмин Р.Н. // УФН. 1977. Т. 122. В. 1 (500). С. 81--124
  7. Пшеничный Г.А. Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение, 1988. В. 37. С. 24--40
  8. Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. М.: Мир, 1989. 568 с
  9. Ковальчук М.В. // Вестн. РАН. 2003. Т. 73. N 5. С. 405--415
  10. Гравшин Ю.М., Зельцер И.А., Ковальчук М.В. // Электронная промышленность. 1989. В. 4. С. 23--25
  11. Гравшин Ю.М., Зельцер И.А., Сеничкина Р.С. // Электронная промышленность. 1989. В. 4. С. 25--27
  12. Зельцер И.А., Крютченко О.Н. // Материалы симпозиума памяти Г.Н. Шуппе. Рязань, 1996. С. 188--190

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme