Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Новые возможности нанодиагностики структуры поверхности с помощью стоячих рентгеновских волн в условиях непрерывного резонансного комбинационного рассеяния рентгеновского излучения
Зельцер И.А.1, Кукушкин С.А.1, Моос Е.Н.1
1Рязанский государственный университет им. С.А. Есенина, Рязань, Россия 
Email: e_moos@mail.ru
Поступила в редакцию: 6 июля 2007 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2008 г.
Рассмотрены основные принципы, новые возможности и приборная реализация структурно-чувствительной спектроскопии поверхности конденсированных сред с помощью стоячих рентгеновских волн в случае регистрации эмиссии электронов под действием непрерывного резонансного комбинационного (рамановского) рассеяния рентгеновского излучения. Показано, что перспективы развития и применения новых возможностей метода стоячих рентгеновских волн для исследования поверхности связаны с созданием комплекса экспериментального оборудования и специализированных источников синхротронного излучения. PACS: 61.10.Dp, 68.65.La
- Ковальчук М.В., Кон В.Г. // УФН. 1986. Т. 149. В. 1. С. 69--103
- Ковальчук М.В., Шилин Ю.Н., Денисов А.Г., Гравшин Ю.М., Зельцер И.А., Ляпин А.М., Сеничкина P.C. // ПТЭ. 1987. Т. 3. С. 191--196
- Durbin S.M., Berman L.E., Batterman B.W., Blakely J.M. // Phys. Rev. Lett. 1986. V. 56. N 3. P. 236--246
- Durbin S.M., Berman L.E., Batterman B.W., Blakely J.M. // Phys. Rev. B. 1986. V. 33. N 6. P. 4402--4412
- Афанасьев А.М., Перегудов В.Н. // Докл. АН СССР. 1988. Т. 301. N 5. С. 1098--1104
- Бушуев В.А., Кузьмин Р.Н. // УФН. 1977. Т. 122. В. 1 (500). С. 81--124
- Пшеничный Г.А. Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л.: Машиностроение, 1988. В. 37. С. 24--40
- Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. М.: Мир, 1989. 568 с
- Ковальчук М.В. // Вестн. РАН. 2003. Т. 73. N 5. С. 405--415
- Гравшин Ю.М., Зельцер И.А., Ковальчук М.В. // Электронная промышленность. 1989. В. 4. С. 23--25
- Гравшин Ю.М., Зельцер И.А., Сеничкина Р.С. // Электронная промышленность. 1989. В. 4. С. 25--27
- Зельцер И.А., Крютченко О.Н. // Материалы симпозиума памяти Г.Н. Шуппе. Рязань, 1996. С. 188--190
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
