"Письма в журнал технической физики"
Издателям
Вышедшие номера
О возможности определения размера когерентного нановключения и параметра несоответствия кристаллических решеток по темнопольному изображению в просвечивающем электронном микроскопе
Кириленко Д.A.1, Руколайне С.А.1, Ситникова А.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: zumsisai@gmail.com
Поступила в редакцию: 24 июля 2007 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2007 г.

Идентификация наноразмерных включений по электронно-микроскопическим снимкам, кристаллическая структура которых совпадает со структурой окружающей матрицы, сопряжена со значительными трудностями. Анализ изображений электронной микроскопии высокого разрешения требует весьма значительного объема вычислений и точного знания множества параметров. Известный же способ определения характеристик когерентного включения по его темнопольному изображению применим лишь к относительно крупным выделениям. В настоящей работе описывается возможный способ определения по темнопольному изображению размера и параметра несоответствия кристаллических решеток для включений размером несколько нанометров. PACS: 61.46.-w, 68.37.Lp, 68.65.Hb, 81.07.Ta
  • Ashby M.F., Brown L.M. // Phil. Mag. 1963. N 8. P. 1083
  • Ashby M.F., Brown L.M. // Phil. Mag. 1963. N 8. P. 1649
  • Janssens K.G.F., Vanhellemount J., Maes H.E. et al. // Microsc. Semicond. Mater. Conf. 1995. P. 579
  • Hirsh P.B., Howie A., Nicholson R.B. et al. Electron Microscopy of thin crystals. London, Butterworths, 1965
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.