Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
О возможности определения размера когерентного нановключения и параметра несоответствия кристаллических решеток по темнопольному изображению в просвечивающем электронном микроскопе
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия 
Email: zumsisai@gmail.com
Поступила в редакцию: 24 июля 2007 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2007 г.
Идентификация наноразмерных включений по электронно-микроскопическим снимкам, кристаллическая структура которых совпадает со структурой окружающей матрицы, сопряжена со значительными трудностями. Анализ изображений электронной микроскопии высокого разрешения требует весьма значительного объема вычислений и точного знания множества параметров. Известный же способ определения характеристик когерентного включения по его темнопольному изображению применим лишь к относительно крупным выделениям. В настоящей работе описывается возможный способ определения по темнопольному изображению размера и параметра несоответствия кристаллических решеток для включений размером несколько нанометров. PACS: 61.46.-w, 68.37.Lp, 68.65.Hb, 81.07.Ta
- Ashby M.F., Brown L.M. // Phil. Mag. 1963. N 8. P. 1083
- Ashby M.F., Brown L.M. // Phil. Mag. 1963. N 8. P. 1649
- Janssens K.G.F., Vanhellemount J., Maes H.E. et al. // Microsc. Semicond. Mater. Conf. 1995. P. 579
- Hirsh P.B., Howie A., Nicholson R.B. et al. Electron Microscopy of thin crystals. London, Butterworths, 1965
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
