Взаимодействие оптического излучения с массивом нитевидных кристаллов GaAs
Неучева О.А.1, Евстрапов А.А.1, Самсоненко Ю.Б.1, Цырлин Г.Э.1
1Институт аналитического приборостроения РАН, С.-Петербург Санкт-Петербургский физико-технологический Научно-образовательный центр РАН Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, С.-Петербург
Email: evstra@iai.rssi.ru
Поступила в редакцию: 12 апреля 2007 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2007 г.
Исследованы спектральные зависимости отражательной способности образцов легированных кристаллических наноструктур из GaAs, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии с различными структурными характеристиками. Показано, что характер спектральных зависимостей отражательной способности наноструктур определяется формой нанокристаллов: наноструктуры с каплевидной и остроигольчатой вершинами по-разному взаимодействуют с электромагнитным излучением. Выявлено спектрально-селективное воздействие лазерного излучения на массив наноструктур, приводящее к изменению их высоты и "спеканию" верхушек, меняя отражательную способность образца. Этот эффект может применяться при создании локальных микроструктур с заданными характеристиками в массиве нанокристаллов. PACS: 78.67.-n
- Xin Yu, Sang Nyon Kim, Fotios Papadimitrakopoulos, James F. // Mol. BioSyst. 2005. V. 1. P. 70--78
- Patolsky F., Lieber C.M. // Materials Today. April 2005. P. 20--28
- Patolsky F., Zheng G., Hayden O., Lakadamyali M., Zhuang X., Lieber Ch. // Proceedings on National Academy of Science. 2004. V. 101. N 39. P. 14 017--14 022
- Dobrokhotov V., Mcllroy D.N., Norton M.G. et al. // J. Appl. Phys. 2006. V. 99. P. 104 302
- Meijers R., Richter T., Calarco R., Stoica T., Bochem H.-P., Mapso M., Luth H. // Journal of crystal growth. 2006. V. 289. N 1. P. 381--386
- Wu R. // Materials Science and Engineering. 2006. V. 328. N 1--2. P. 196--200
- Цырлин Г.Э., Дубровский В.Г., Сибирев Н.В., Сошников И.П., Самсоненко Ю.Б., Тонких А.А., Устинов В.М. // ФТП. 2005. Т. 39. В. 5. С. 587--594
- Тонких А.А., Цырлин Г.Э., Самсоненко Ю.Б., Сошников И.П., Устинов В.М. // ФТП. 2004. Т. 38. В. 10. С. 1256--1260
- Гавриленко В.И., Грехов А.М., Корбутяк Д.В., Литовченко В.Г. Оптические свойства полупроводников. Справочник. Киев: Наук. думка, 1987. 608 с
- Ovechko V.S., Dmytruk A.M., Fursenko O.V., Lepeshkina T.P. // Vacuum. 2001. V. 61. P. 123--128
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук