Вышедшие номера
Ионно-пучковый метод определения массовой плотности углеводородной матрицы в тонкопленочных нанокомпозитах
Чеченин Н.Г.1, Черных П.Н.1, Куликаускас В.С.1, Pei Y.1, Vainshtein D.1, De Hosson J.Th.M.1
1Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д.В. Скобельцына Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия Materials Science Center, University of Groningen, The Netherlands
Email: chechenin@sinp.msu.ru
Поступила в редакцию: 12 января 2007 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2007 г.

На примере тонкопленочных нанокомпозитов nc-TiC/a-C : H проиллюстрирована возможность определения парциальной массовой плотности углеводородной матрицы. Предлагаемая методика основана на использовании ионно-пучковых методов: резерфордовского (RBS) и ядерного обратного рассеяния (NBS) и ядер отдачи (ERD). PACS: 61.18.-Bn, 81.07.-b