"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Ионно-пучковый метод определения массовой плотности углеводородной матрицы в тонкопленочных нанокомпозитах
Чеченин Н.Г.1, Черных П.Н.1, Куликаускас В.С.1, Pei Y.1, Vainshtein D.1, De Hosson J.Th.M.1
1Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д.В. Скобельцына Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия Materials Science Center, University of Groningen, The Netherlands
Email: chechenin@sinp.msu.ru
Поступила в редакцию: 12 января 2007 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2007 г.

На примере тонкопленочных нанокомпозитов nc-TiC/a-C : H проиллюстрирована возможность определения парциальной массовой плотности углеводородной матрицы. Предлагаемая методика основана на использовании ионно-пучковых методов: резерфордовского (RBS) и ядерного обратного рассеяния (NBS) и ядер отдачи (ERD). PACS: 61.18.-Bn, 81.07.-b
  1. Dischler B., Bubenzer A., Koidl P. // Solid State Commun. 1983. V. 48. P. 105
  2. Mikami T., Nakazawa H., Kudo M., Mashita M. // Thin Solid Films. 2005. V. 488. P. 87
  3. Conway N.M.J., Ferrari A.C., Flewitt A.J., Robertson J., Milne W.I., Tagliaferro A., Beyer W. // Diamond Relat. Mater. 2000. V. 9. P. 765
  4. Li H., Xu T., Wang C., Chen J., Zhou H., Liu H. // Thin Solid Films. 2006. V. 515. P. 2153
  5. Robertson J. // Mater. Sci. Eng. 2002. V. R 37. P. 129
  6. Galvan D., Pei Y.T., , De Hosson J.Th.M., Cavaleiro A. // Surf. Coat. Technol. 2005. V. 200. P. 739
  7. Rigato V., Maggioni G., Boscarino D. et al. // Surf. Coat. Technol. 1999. V. 116--119. P. 580
  8. Pei Y.T., Galvan D., De Hosson J.Th.M. // Acta Materialia. 2005. V. 53. P. 4505--4521
  9. Dolittle L.R. // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. 1985. V. B9. P. 344--351
  10. Химическая энциклопедия. Т. 2. М.: Сов. энциклопедия, 1990. 624 c
  11. Химическая энциклопедия. Т. 1. М.: Сов. энциклопедия, 1988. 1189 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.