Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Встречное двухволновое взаимодействие в кубических фоторефрактивных пьезокристаллах произвольного среза
1Мозырский государственный педагогический университет им. И.П. Шамякина, Мозырь, Республика Беларусь 
Email: vasshep@inbox.ru
Поступила в редакцию: 22 января 2007 г.
Выставление онлайн: 20 августа 2007 г.
Проанализировано встречное двухволновое взаимодействие на объемных фазовых отражательных голографических решетках в кубическом оптически активном фоторефрактивном пьезокристалле класса симметрии 23 произвольного среза. Установлено, что существует критическое значение толщины кристалла, которое разделяет множество значений толщины на два характерных интервала. В случае, когда толщина кристалла меньше критического значения, поляризационно оптимизированная относительная интенсивность предметной волны достигает наибольших значений в кристалле среза 100. Для остальных значений толщины кристалла поляризационно оптимизированная относительная интенсивность предметной волны принимает максимальное значение для срезов, отличных от 100, совпадающих при некоторых фиксированных значениях толщины со срезом 111. Предложена методика определения таких срезов, реализованная на примере кристалла Bi12SiO20. PACS: 42.70.Nq, 42.40.-i
- Kukhtarev N.V., Dovgalenko G.E., Starkov V.N. // J. Appl. Phys. A. 1984. V. 33. P. 227-230
- Храмович Е.М., Шепелевич В.В. // Изв. АН БССР. Сер. ф.-м. наук. 1987. N 2. С. 106-112
- Weber M., Shamonina E., Ringhofer K.H. et al. // Opt. Mat. 2001. V. 18. P. 119-122
- Mallick S., Miteva M., Nikolova L. // J. Opt. Soc. Am. 1997. V. 14. P. 1179-1186
- Шепелевич В.В., Навныко В.Н., Ничипорко С.Ф. и др. // Письма в ЖТФ. 2003. Т. 29. В. 18. С. 22-28
- Eichler H.J., Ding Y., Smandek B. // Phys. Rev. A. 1995. V. 52. P. 2411-2418
- Шубников А.В. Избранные труды по кристаллографии. М., 1975. 551 с
- Сиротин Ю.И., Шаскольская М.П. Основы кристаллофизики. М., 1979. 639 с
- Петров М.П., Степанов С.И., Хоменко А.В. Фоторефрактивные кристаллы в когерентной оптике. СПб., 1992. 320 с
- Бабонас Г.А., Реза А.А., Леонов Е.И. и др. // ЖТФ. 1985. Т. 55. N 6. С. 1203-1205
- Александров К.С., Бондаренко В.С., Зайцев М.П. и др. // ФТТ. 1984. Т. 26. N 12. С. 3603-3610
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
