Новый подход к расчету вытекающих мод многослойных волноводных структур, основанный на точном методе конечных разностей
Поступила в редакцию: 11 июля 2005 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2005 г.
На примере многослойных планарных оптических волноводов, волноведущие свойства которых определяются не полным внутренним отражением от границы ядра и оболочки, как в обычных оптических волноводах, а антирезонансным отражением от многослойной оболочки, так называемым ARROW волноводов демонстрируется эффективность нового численного метода расчета электромагнитных мод - точного метода конечных разностей (EFDM), представляющего собой синтез метода конечных разностей и метода матрицы переноса. Предлагаемый метод равно применим как к расчету электромагнитных мод в диэлектрических волноводах, так и к расчету квантовых состояний электронов в многобарьерных полупроводниковых гетероструктурах. Приводятся результаты сравнения характеристик 9-слойного волновода, рассчитанных на основе предлагаемого подхода, с известными из литературы, полученными с помощью решения дисперсионного уравнения в рамках метода матрицы переноса. В качестве примера приводятся результаты расчета спектральных зависимостей радиационного затухания первой вытекающей ТЕ моды планарных оптических волноводов с различным числом слоев.
- Chen C., Berini P., Feng D., Tanev S., Tzolov V.P. // Optics Express. 2000. V. 7. P. 260
- Mayer A., Vigneron J.-P. // Physical Review. E. 1999. V. 59. P. 4659
- Anemogiannis E., Glytsis E.N., Gaylord T.K. // J. Lightwave Tech. 1999. V. 17. P. 929
- Kramer B. (ed.) // Adv. in Solid State Phys. 2003. V. 43. P. 351
- Голант Е.И., Кальфа А.А., Пореш С.Б., Тагер А.С. // Электронная техника. Сер. 1. Электроника СВЧ. 1981. В. 7. С. 23--28
- Huang W.P., Shubair R.M., Nathan A., Chow Y.L. // J. Lightwave Technol. 1992. V. 10. P. 1015
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.