Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Атомная релаксация на изломах ступенек поверхности \ 112 \ вольфрама
1Национальный научный центр "Харьковский физико-технический институт", Харьков, Украина 
Поступила в редакцию: 6 мая 2003 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2003 г.
Методами полевой ионной микроскопии исследовалось низкотемпературное полевое испарение ступенек < 111> на грани 112 вольфрама. Установлено, что атомы на изломах ступенек аномально устойчивы к полевому испарению. Показано, что этот эффект связан с релаксацией атомов на изломах ступенек. На основании геометрического анализа ионно-микроскопических изображений рассчитана нормальная к поверхности компонента релаксационного смещения атомов на изломах ступенек.
- Swamy K., Bertel E., Vilfan I. // Surf. Sci. 1999. V. 425. P. L369
- Kiriukhin S., Sutcu L., Conrad E.H. // Phys. Rev. 1999. V. B 59. N 10. P. 6736--6741
- Hirsimaki M., Pitkanen T., Valden M. et al. // Surf. Sci. 2000. V. 454--456. N 1. P. 6--10
- Miller M.K., Cerezo A., Hetherington M.G., Smith G.D.W. Atom-Probe Field Ion Microscopy. Oxford: Oxford University Press, 1996. 509 p
- Syvorov A.L., Razinkova T.L., Sokolov A.G. // Phys. Stat. Sol. 1980. V. A61. N 1. P. 11--52
- Mikhailovskij I.M., Smith G.D.W., Wanderka N., Mazilova T.I. // Ultramicroscopy. 2003. V. 95. P. 157--163
- Adams D.L., Sorensen C.S. // Surf. Sci. 1986. V. 166. N 2. P. 495--511
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
