Экспериментальное исследование поглощения волн миллиметрового диапазона в тонких металлических пленках
Андреев В.Г.1, Вдовин В.А.1, Воронов П.С.1
1Институт радиофизики и электроники РАН, Москва
Email: chusov@cplire.ru
Поступила в редакцию: 2 июня 2003 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2003 г.
Исследованы зависимости оптических коэффициентов (R, T, A) на длине волны 8 mm тонкой алюминиевой пленки в диапазоне толщин 1.7-15 nm с учетом материала подложки. Показано наличие максимума поглощения при толщине пленки 2.5 nm. Объяснение экспериментальных результатов проведено с учетом зависимости проводимости пленки от толщины.
- Reuter G.E.H., Sondheimer E.H. // Proc. Roy. Soc. A. 1948. V. 195. N 1042. P. 336--364
- Каплан А.Е. // РЭ. 1964. Т. 9. N 10. С. 1781--1787
- Андреев В.Г., Вдовин В.А., Карабутов А.А. // Изв. РАН. Сер. физ. 2002. Т. 66. N 12. С. 1750--1753
- Розенберг Г.В. Оптика тонкослойных покрытий. М., 1958. 570 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
