Высокополевое формирование многоигольчатых полевых эмиттеров
Мазилова Т.И.1, Котречко С.А.1, Мазилов А.А.1, Маслов Н.И.1, Саданов Е.В.1, Михайловский И.М.1
1Национальный научный центр "Харьковский физико-технический институт" НАНУ, Харьков, Украина Институт металлофизики НАНУ, Киев-142, Украина
Email: mikhailovskij@kipt.kharkov.ua
Поступила в редакцию: 22 ноября 2011 г.
Выставление онлайн: 20 марта 2012 г.
С помощью методов полевой ионной и электронной микроскопии продемонстрирована возможность повышения эффективности формирования полевых источников с развитой эмитирующей поверхностью путем использования явления испарения в сильных электрических полях, стимулированного активными газами. Процесс формирования является самосогласованным и завершается по достижению равенства локальных факторов поля над вершинами эмиттеров, независимо от первоначального распределения их по радиусам кривизны и локальным факторам взаимной экранировки.
- Chang C.C., Kuo H.S., Hwang I.S., Tsong T.T. // Nanotechnology. 2009. V. 20. P. 115401 (6 p)
- Голубев О.Л. // Письма в ЖТФ. 2009. Т. 35. В. 12. С. 18--24
- Соминский Г.Г., Сезонов В.Е., Саксеев Д.А., Тумарева Т.А. // ЖТФ. 2011. Т. 81. В. 6. С. 104--108
- Бернацкий Д.П., Павлов В.Г. // Письма в ЖТФ. 2011. Т. 37. В. 24. С. 35--41
- Великодная О.А., Гурин В.А., Гурин И.В., Колосенко В.В., Ксенофонтов В.А., Михайловский И.М., Саданов Е.В., Буколов А.Н., Мазилов А.А. // Письма в ЖТФ. 2007. Т. 33. В. 13. P. 90--94
- Schwoebel P.R., Spindt C.A., Holland C.E., Panitz J.A. // J. Vac. Sci. Technol. B. 2001. V. 19. N 2. P. 582--584
- Mikhailovskij I.M., Wanderka N., Storizhko V.E., Ksenofontov V.A., Mazilova T.I. // Ultramicroscopy. 2009. V. 109. P. 480--485
- Miller M.K., Cerezo A., Hetherington M.G., Smith G.D.W. Atom-probe field ion microscopy. Oxford: Oxford University, 1996. 509 p
- Mikhailovskiy I.M., Sadanov E.V., Mazilova T.I., Ksenofontov V.A., Velicodnaja O.A. // Phys. Rev. B. 2009. V. 80. P. 165404 (7 p)
- Форбс Р.Г., Луговская Е.И., Мазилов А.В., Мазилова Т.И., Михайловский И.М. Патент Украины N 66188. Зарегистрирован 15.08.06
- Rezeq M., Pitters J., Wolkow R. Patent US N 7431856 B2. 07.10.08
- Маслов N., Kulibaba V., Potin S., Starodubtsev A., Kuijer P., de Haas A.P., Perevertailo V. // Nuclea Physics B (Proc. Suppl). 1999. V. 78. P. 689--694
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук