"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Анализ дефектной структуры приповерхностных слоев проводящих материалов с помощью эффекта электронного туннелирования
Бойло И.В.1, Белоголовский М.А.1
1Донецкий физико-технический институт им. А.А. Галкина НАНУ, Украина
Email: bel@fti.dn.ua
Поступила в редакцию: 27 сентября 2011 г.
Выставление онлайн: 20 января 2012 г.

Предложен общий подход к расчету туннельных характеристик гетероструктур с наноразмерными разупорядоченными пленками изолятора, основанный на учете эффектов упругого и неупругого туннелирования. Показано, что нахождение показателя степени в зависимости дифференциальной проводимости таких контактов от напряжения, измеренной при низких температурах, позволяет выяснить структуру переходного слоя между металлическими электродами. В качестве примера приведен анализ туннельных кривых для контактов серебра с проводящими пленками манганитов и купратов.
  1. Свистунов В.М., Белоголовский М.А., Хачатуров А.И. // УФН. 1993. Т. 163. N 2. С. 61--79
  2. Svistunov V.M., Leonova V.N., Belogolovskii M.A., Medvedev Yu.V., Revenko Yu.F., Strzhemechny Y.M., Hui D., Endo T. // Mod. Phys. Lett. B. 2008. V. 22. N 29. P. 2811--2819
  3. La O.G.J., Shao-Horn Y. // J. Electrochem. Soc. 2009. V. 156. N 7. P. B816--B824
  4. Eichel R.-A. // Phys. Chem. Chem. Phys. 2011. V. 13. P. 368--384
  5. Bonnell D.A. // Prog. Surf. Sci. 1998. V. 57. N 3. P. 187--252
  6. Graser S., Hirschfeld P.J., Kopp T., Gutser R., Andersen B.M., Mannhart J. // Nat. Phys. 2010. V. 6. N 9. P. 609--614
  7. Ramakrishnan T.V. // J. Phys.: Condens. Matter. 2007. V. 19. N 12. P. 125211-1--25
  8. Вольф Е.Л. Приницпы электронной туннельной спектроскопии / Пер. с англ. Киев: Наук. думка, 1990. 456 с. ( Wolf E.L. Principles of Electron Tunneling Spectroscopy. New York: Oxford University Press, 1985)
  9. Глазман Л.И., Матвеев К.А. // ЖЭТФ. 1988. Т. 94. С. 332--343
  10. Хu Y., Ephron D., Beasley M.R. // Phys. Rev. B. 1995. V. 52. N 4. P. 2843--2859
  11. Имри Й. Введение в мезоскопическую физику. М.: Физматлит, 2004. 304 с
  12. Larkin S.Yu., Boylo I.V., Belogolovskii M.F., Plecenik T., Tamavsek M., Gregor M., Noskovic J., Zahoran M., Roch T., Kuvs P., Plecenik A., Moskalenko M.F., vSpankova M., Chromik vS. // 17th International Symposium "Nanostructures: Physis and Technology". Proceedings. Minsk. 2009. C. 272--273

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.