Метод увеличения дальности работы когерентного оптического рефлектометра
Нестеров Е.Т.1, Трещиков В.Н.1, Озеров А.Ж.1, Слепцов М.А.1, Камынин В.А.1, Наний О.Е.1, Сусьян А.А.1
1ООО "T8", Москва Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова
Email: alexander.susyan@gmail.com
Поступила в редакцию: 9 декабря 2010 г.
Выставление онлайн: 19 апреля 2011 г.
Предложен, теоретически обоснован и экспериментально продемонстрирован новый метод увеличения работы когерентного оптического рефлектометра. Метод основан на использовании нескольких типов волокон с разной величиной коэффициента обратного рассеяния, причем волокно с более высоким коэффициентом обратного рассеяния подключается к концу участка волокна с наименьшим коэффициентом поглощения на рабочей длине волны, длина которого - максимально возможная для обеспечения заданного уровня чувствительности. Показана возможность увеличения дальности работы когерентного рефлектометра до 50 km.
- Taylor H., Lee C. // US Patent. 1993. N 5. V. 194. P. 847
- Mamedov A.M., Potapov V.T., Shatalin S.V., Juskaitis R. // Opt. Lett. 1994. V. 19. P. 225
- Shatalin S., Treshicov V., Rogers A. // Appl. Opt. 1994. V. 37. P. 5600
- Choi K.N., Juares J.C., Taylor H.F. // Proc. SPIE. 2003. V. 5090. P. 134
- Горшков Б.Г., Парамонов В.М., Курков А.С., Кулаков А.Т. // Lightwave Rus. Ed. 2005. N 4. С. 47--49
- Горшков Б.Г., Парамонов В.М., Курков А.С., Кулаков А.Т., Зазирный М.В. Квантовая электроника. 2006. Т. 36. В. 10. C. 963--965
- Koyamoto Y., Imahama M., Kubota K., Hogari K. // JLT. 2009. V. 27. P. 1142
- Слепцов М.А., Трещиков В.Н., Шаталин С.В. // 1-ая Всерос. конф. по волоконной оптике. Пермь, 2007
- Трещиков В.Н., Наний О.Е., Нестеров Е.Т. // Всерос. конф. по волоконной оптике. Пермь, 2009
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук