Исследование влияния толщины медного катализатора и пленочного подслоя на морфологию наностержней ZnO
Лянгузов Н.В.1, Кайдашев В.Е.1, Кайдашев Е.М.1, Абдулвахидов К.Г.1
1Южный Федеральный университет, НИИ механики и прикладной математики, Ростов-на-Дону Южный Федеральный университет, НИИ физики, Ростов-на-Дону
Email: n.lianguzov@mail.ru
Поступила в редакцию: 15 сентября 2010 г.
Выставление онлайн: 17 февраля 2011 г.
Исследовано влияние толщины пленочного подслоя ZnO, а также толщины пленок катализатора роста (Cu) на морфологию наностержней ZnO, выращенных на подложках a-Al2O3(11-20) карботермическим методом. Увеличение толщины пленки Cu приводит к увеличению диаметров, высоты и поверхностной плотности наностержней. Увеличение толщины пленочного подслоя ZnO приводит к возрастанию среднего диаметра и уменьшению длины и поверхностной плотности наностержней. Проведены исследования по влиянию температуры на процесс термического развала сверхтонких пленок меди, нанесенынх на подложки a-Al2O3. Исследованы фотолюминесцентные свойства массивов наностержней при высоких уровнях оптической накачки. Повышение плотности мощности накачки до 250-280 kW/cm2 приводит к сверхлюминесценции наностержней.
- Fan H.J., Fleisher F., Lee W., Nielsch K., Scholz R., Zacharias M., Gosele U., Dadgar A., Krost A. // Superlattices and Microstructures. 2004. V. 36. P. 95--105
- Jinhui Song, Xudong Wang, Elisa Riedo, Xhong L. Wang // J. Phys Chem. B. 2005. V. 109. N 20
- Dalal S.H., Baptista D.L., Teo K.B.R., Lacerda R.G., Jefferson D.A., Milne W.I. // Nanotechnology. 2006. V. 17. P. 4811--4818
- Кайдашев В.E., Кайдашев Е.М., Peres M., Monteiro T., Correia M.R. Sobolev N.A. // ЖТФ. 2009. Т. 79. B. 11. С. 45--49
- Johnson J.C., Yan H., Yang P., Saykally R.J. // J. Phys. Chem. B. 2003. V. 107. P. 8816--8828
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
