Вышедшие номера
Рентгенотопографический контраст краевых дислокаций, перпендикулярных поверхности кристалла 6H-SiC
Окунев А.О., Шульпина И.Л.
Email: iren.shulpina@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 17 февраля 2005 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2005 г.

Описаны особенности рентгенотопографических изображений краевых дислокаций, перпендикулярных поверхности (0001) монокристалла 6H-SiC. Проводится сопоставление контраста, полученного методом аномального прохождения рентгеновских лучей и методом секционной топографии в геометрии прохождения.