Исследования влияния толщины на свойства пленок FeAlN
Камзин А.С.1, Вей Фулинь1, Янг Зхенг1, Камзин С.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, С.-Петербург НИИ магнитных материалов, Ланджоуский университет, Ланджоу, Китай
Email: Kamzin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 27 декабря 2004 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2005 г.
Исследованы магнитные свойства, микроструктура и морфология нанокристаллических FeAlN тонких пленок в зависимости от толщины синтезированной пленки. Обнаружено, что наилучшие магнитомягкие свойства имеют пленки толщиной более 800 nm. Эти пленки состоят из нанокристаллических alpha-Fe частиц, средний размер которых ~ 15 nm, а расширение кристаллической решетки в плоскости (110) приближается к критическому значению 0.28%. Параметр mu1 в синтезированных пленках FeNAl толщиной 1000 nm составляет ~ 2000.
- Takahashi M., Hatakeyama I., Kim T.K. // Czech. J. Phys. 1971. V. B21. P. 574
- Kim K.H., Kim Y.H., Kim J., Han S.H., Kim H.J. // J. Magn. Magn. Mater. 2000. V. 215--216. P. 368
- Zheng D., Ma Y., Wu D., Xie T., Wei F., Yang Z. // Phys. Stat. Sol. (a). 2002. V. 193. P. 61
- Ma Y., Li X., Xie T., Wei F., Yang Z. // Mater. Science \& Engineering. 2003. V. B103. P. 233
- Камзин А.С., Вей Фулинь, Зхенг Янг, Камзин С.А. // ФТТ. 2005. Т. 47. В. 3
- Viala B., Minor M.K., Barnard J.A. // J. Appl. Phys. 1996. V. 80. N 7. P. 3941
- Pehkle R.D., Elliott F. // AIME Trans. 1960. V. 218. P. 1088
- Rogers D.J., Wang S., Laoghlin D.E., Kryder M.H. // IEEE Trans. Magn. MAG. 1992. V. 28. N 5. P. 2419
- Xie Tlan, Zheng Dai--Shun, Li Xiao-Hoiig, Ma Yun-Gui, Wei Fu-Lin, Yang Zheng // Chinese Phys. 2002. V. 11. N 7. P. 725
- Loffher J.F., Braun H.B., Wanger W., Kostorz G., Wiedenmann A. // Mater. Sci. Eng. 2001. V. A 304--306. P. 1050
- Takahashi M., Shimatsu T., Shoji H. // Proc. ICF. 1992. V. 6. P. 1483
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
