Исследование рентгенооптических характеристик микроканальных пластин методом спектроскопии поглощения
Мазурицкий М.И.1, Солдатов А.В.1, Касрай М.1
1Ростовский государственный университет, Ростов-на-Дону
Email: mazurmik@aaanet.ru
Поступила в редакцию: 2 июня 2004 г.
Выставление онлайн: 19 марта 2005 г.
Получены и исследованы в диапазоне 80-250 eV экспериментальные рентгеновские спектры поглощения для различных образцов микроканальных пластин (МКП). Представлены результаты анализа тонкой структуры XANES спектров, а также новый подход к исследованию влияния технологической обработки на рентгенооптические свойства микроканалов. Установлено, что для длинноволнового рентгеновского излучения термоводородное восстановление МКП повышает критический угол отражения каналов.
- Yamaguchi N., Aoki S., Miyoshi S. // Review of Scientific Instrumentation. 1987. V. 58. P. 43--44
- Chapman H.N., Rode A., Nugent K.A., Wilkins S.W. // Appl. Opt. 1993. V. 32. P. 6333--6340
- Martin A.P., Brunton A.N., Fraser G.W. et al. // NIM. A. 2001. V. 460. P. 316--325
- Козаков А.Т., Никольский А.В., Мазурицкий М.И. и др. // Письма в ЖТФ. 1991. Т. 17. В. 12, С. 9--14
- Козаков А.Т., Никольский А.В., Мазурицкий М.И. // Физика и химия стекла. 1991. N 6. С. 225--231
- Солдатов А.В., Иванченко Т.С., Мазурицкий М.И. // ФТТ. 1994. Т. 36. N 3. С. 836--839
- Виноградов А.В., Кожевников И.В. // Рентгеновская оптика. Наука. 1989. Т. 196. С. 18--46
- Кожевников И.В. // Рентгеновская оптика. Наука. 1989. Т. 196. С. 143--167
- Dabagov S.B., Marcelli A., Murashoval V.A. et al. Coherent and incoherent components of a synchrotron radiation spot produced by separate capillaries. Report Laboratori Nazionali di Frascati (Italy, Frascati). LNF-99/033 (P), Nov., 10. 1999. 12 p
- Аркадьев В.А., Кумахов М.А. // Поверхность. 1986. В. 10. С. 25--32.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук