Semiconductors, 2023, volume 57, issue 3
Surfaces, Interfaces, and Thin Films
Sukhanov M. A., Bakarov A. K., Zhuravlev K.S.
140
Almaev D. A., Almaev A.V., Nikolaev V. I., Butenko P. N., Scheglov M. P., Chikiryaka A. V., Pechnikov A. I.
146
Semiconductor Structures, Low-Dimensional Systems, and Quantum Phenomena
Kotova L. V. , Belova D. D. , Andre R., Mariette H., Kochereshko V. P.
161
Bykov A. A. , Nomokonov D. V. , Goran A. V., Strygin I. S., Marchishin I. V. , Bakarov A. K.
180
Physics of Semiconductor Devices
192
Kryzhanovskaya N.V., Blokhin S.A., Makhov I. S. , Moiseev E. I., Nadtochiy A. M., Fominykh N. A., Mintairov S. A., Kaluyzhnyy N. A., Guseva Yu. A., Kulagina M. M., Zubov F. I., Kolodeznyi E.S., Maximov M.V., Zhukov A. E.
198
Dashkov A.S., Kostromin N. A. , Babichev A. V., Goray L.I., Egorov A. Yu.
203
Zhukov A. E., Kryzhanovskaya N. V., Makhov I. S., Moiseev E. I., Nadtochiy A. M., Fominykh N. A., Mintairov S. A., Kalyuzhyy N. A., Zubov F. I., Maximov M. V.
211
Publisher:

Ioffe Institute

Institute Officers:

Director: Sergei V. Ivanov

Contact us:

26 Polytekhnicheskaya, Saint Petersburg 194021, Russian Federation
Fax: +7 (812) 297 1017
Phone: +7 (812) 297 2245
E-mail: post@mail.ioffe.ru