Фотонная интегральная схема для системы стабилизации длины волны излучения перестраиваемого лазера С-диапазона
Министерство образования и науки Российской Федераци, государственное задание, FEWM-2024-0004
Шейнбергер А.А.
1, Трутнева В.Е.
1, Степаненко М.В.
1, Жидик Ю.С.
1, Юнусов И.В.
11Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Томск, Россия

Email: annasejnberger@gmail.com, valerya.trutnewa@yandex.ru, mikhail.v.stepanenko@tusur.ru, iurii.s.zhidik@tusur.ru, igor.v.yunusov@yandex.ru
Поступила в редакцию: 8 декабря 2025 г.
В окончательной редакции: 6 февраля 2026 г.
Принята к печати: 6 февраля 2026 г.
Выставление онлайн: 31 марта 2026 г.
Приведены результаты разработки фотонной интегральной схемы (ФИС) для измерения длины волны (частоты) излучения в С-диапазоне. Разработанная ФИС обеспечивает разрешение измерения 2.4 pm (0.3 GHz), точность ± 8 pm( ± 1 GHz) и чувствительность к оптической мощности -18 dBm. ФИС разработана для изготовления по технологии, совместимой с технологией КНИ КМОП. Данная ФИС может быть использована в составе системы стабилизации длины волны излучения перестраиваемого лазера С-диапазона при реализации технологии DWDM. Ключевые слова: измерение длины волны излучения, стабилизация длины волны излучения, DWDM, перестраиваемый лазер.
- Z. Chen, X. Dong, J. Gao, Z. Yu, K. Xu, IEEE Photon. J., 17 (2), 1 (2025). DOI: 10.1109/JPHOT.2025.3555482
- Y. Sun, DWDM source with precise channel spacing and good reliability, PhD thesis (College of Science and Engineering, Minneapolis, 2025)
- R. Yu, R. Proietti, J. Kurumida, A. Karalar, B. Guan, S.J.B. Yoo, IEEE Photon. Technol. Lett., 24 (1), 70 (2012). DOI: 10.1109/LPT.2011.2172684
- M. Muneeb, A. Ruocco, A. Malik, S. Pathak, E. Ryckeboer, D. Sanchez, L. Cerutti, J.B. Rodriguez, E. Tournie, W. Bogaerts, M.K. Smit, G. Roelkens, Opt. Express, 22 (22), 27300 (2014). DOI: 10.1364/OE.22.027300
- С.С. Косолобов, И.А. Пшеничнюк, К.Р. Тазиев, А.К. Земцова, Д.С. Земцов, А.С. Смирнов, Д.М. Жигунов, В.П. Драчёв, УФН, 194 (11), 1223 (2024). DOI: 10.3367/UFNr.2024.09.039762 [S.S. Kosolobov, I.A. Pshenichnyuk, K.R. Taziev, A.K. Zemtsova, D.S. Zemtsov, A.S. Smirnov, D.M. Zhigunov, V.P. Drachev, Phys. Usp., 67 (11), 1153 (2024). DOI: 10.3367/UFNe.2024.09.039762]
- W. Bogaerts, L. Chrostowski, Laser Photon. Rev., 12 (4), 1700237 (2018). DOI: 10.1002/lpor.201700237
- A. Volpini, D. Massella, D. Alvarez-Outerelo, F. Soares, F.J. Diaz-Otero, in 2023 IEEE Photonics Society Summer Topicals Meeting Series (SUM) (IEEE, 2023), p. 1--2. DOI: 10.1109/SUM57928.2023.10224439
- Q. Liu, Y. Bian, J. Xiong, Photonics, 12 (9), 928 (2025). DOI: 10.3390/photonics12090928
- Y. Liu, U. Khan, W. Bogaerts, Opt. Express, 33 (6), 13530 (2025). DOI: 10.1364/OE.558406
- S. Hassan, D. Chack, Microelectron. J., 104 (4), 104887 (2020). DOI: 10.1016/j.mejo.2020.104887
- B. Stern, K. Kim, H. Gariah, D. Bitauld, in Frontiers in Optics + Laser Science 2023 (FiO, LS) (Optica Publ. Group, 2023), paper FM6D.4. DOI: 10.1364/FIO.2023.FM6D.4
- K. Qian, J. Tang, H. Guo, W. Liu, J. Liu, C. Xue, Y. Zheng, C. Zhang, Sensors, 17 (1), 100 (2017). DOI: 10.3390/s17010100
- M. Hasan, G.M. Hasan, H. Ghorbani, M. Rad, P. Liu, E. Bernier, T. Hall, Opt. Express, 32 (6), 8697 (2024). DOI: 10.1364/OE.509659