Намагниченность карбина, сформированного на 3d-магнетиках
Давыдов С.Ю.1, Посредник О.В.2
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия

Email: sergei_davydov@mail.ru, lesya1976@mail.ru
Поступила в редакцию: 5 ноября 2025 г.
В окончательной редакции: 13 декабря 2025 г.
Принята к печати: 13 декабря 2025 г.
Выставление онлайн: 10 марта 2026 г.
В рамках адсорбционного подхода к описанию электронной структуры эпитаксиальных слоев получены аналитические выражения для намагниченности кумулена и полиина, сформированных на магнитной подложке. Для описания плотности состояний спиновых σ-подзон Fe, Co и Ni использована модель Фриделя. Показано, что спиновый момент адатомов углерода карбина пропорционален взаимному смещению σ-подзон подложки. Ключевые слова: кумулен, полиин, числа заполнения, магнитный момент. DOI: 10.21883/0000000000
- F. Banhart, J. Nanotechnol., 6, 559 (2015). DOI: 10.3762/bjnano.6.58
- A. Kucherik, A. Osipov, V. Samushkin, R.R. Hartmann, A.V. Povolotsky, M.E. Portnoi, Phys. Rev. Lett., 132, 056902 (2024). DOI: 10.1103/PhysRevLett.132.056902
- R.A. Ng, A. Kucherik, M.E. Portnoi, R.R. Hartmann, Small Struct., 6, e202500266 (2025). DOI: 10.1002/sstr.202500266
- С.Ю. Давыдов, ФТП, 53 (7), 971 (2019). DOI: 10.21883/FTP.2019.07.47876.9036 [S.Yu. Davydov, Semiconductors, 53, 954 (2019). DOI: 10.1134/S1063782619070078]
- S.E. Muller, A.K. Nair, Comput. Mater. Sci., 159, 187 (2019). DOI: 10.1016/j.commatsci.2018.12.006
- G. Yang, Mater. Sci. Eng. B, 151, 100692 (2022). DOI: 10.1016/j.mser.2022.100692
- S. Kutrovskaya, A. Osipov, S. Baryshev, A. Zasedatelev, V. Samyshkin, S. Demirchyan, O. Pulci, D. Grassano, L. Gontrani, R.R. Hartmann, M.E. Portnoi, A. Kucherik, P.G. Lagoudakis, A. Kavokin, Nano Lett., 20, 6502 (2020). DOI: 10.1021/acs.nanolett.0c02244
- R.R. Hartmann, S. Kutrovskaya, A. Kucherik, A.V. Kavokin, M.E. Portnoi, Phys. Rev. Res., 3, 033202 (2021). DOI: 10.1103/PhysRevResearch.3.033202
- О.М. Браун, В.К. Медведев, УФН, 157 (4), 631 (1989). DOI: 10.3367/UFNr.0157.198904c.0631 [O.M. Braun, V.K. Medvedev, Sov. Phys. Usp., 32, 328 (1989). DOI: 10.1070/PU1989v032n04ABEH002700]
- С.Ю. Давыдов, ФТТ, 66 (5), 723 (2024). DOI: 10.61011/FTT.2024.05.58086.16 [S.Yu. Davydov, Phys. Solid State, 66, 701 (2024). DOI: 10.61011/PSS.2024.05.58500.16]
- W.P. Su, J.R. Schrieffer, A.J. Heeger, Phys. Rev. B, 22, 2099 (1980). DOI: 10.1103/PhysRevB.22.2099
- A.G. Heeger, S. Kivelson, J.R. Schrieffer, W.-P. Su, Rev. Mod. Phys., 60, 781 (1988). DOI: 10.1103/RevModPhys.60.781
- С.Ю. Давыдов, ФТТ, 58 (4), 779 (2016). [S.Yu. Davydov, Phys. Solid State, 58, 804 (2016). DOI: 10.1134/S1063783416040041]
- F.D.M. Haldane, P.W. Anderson, Phys. Rev. B, 13, 2553 (1976). DOI: 10.1103/PhysRevB.13.2553
- С.Ю. Давыдов, О.В. Посредник, Письма в ЖТФ, 47 (11), 37 (2021). DOI: 10.21883/PJTF.2021.11.51006.18650 [S.Yu. Davydov, O.V. Posrednik, Tech. Phys. Lett., 47, 550 (2021). DOI: 10.1134/S1063785021060079]
- У. Харрисон, Электронная структура и свойства твердых тел (Мир, М., 1983), т. 2, гл. 20. [W.A. Harrison, Electronic structure and the properties of solids (Freeman, San Francisco, 1980).]
- В.Ю. Ирхин, Ю.П. Ирхин, Электронная структура, физические свойства и корреляционные эффекты в d- и f-металлах и их соединениях (УрО РАН, Екатеринбург, 2004), гл. 2
- Физические величины, под ред. И.С. Григорьева, Е.З. Мейлихова (Энергоатомиздат, М., 1991)
- С.Ю. Давыдов, ФТП, 46 (2), 204 (2012). [S.Yu. Davydov, Semiconductors, 46, 193 (2012). DOI: 10.1134/S1063782612020066]
- Q. Yuan, F. Ding, Nanoscale, 6, 12727 (2014). DOI: 10.1039/c4nr03757j
- R. Tomov, M. Aleksandrova, Molecules, 28, 6409 (2023). DOI: 10.3390/molecules28176409
- M.Y. Kim, S.J. Park, G.-Y. Kim, S.-Y. Choi, H. Jin, Energy Environ. Sci., 14, 3480 (2021). DOI: DOI: 10.1039/d1ee00667c
- Y. Ni, G. Deng, J. Li, H. Hua, N. Liu, ACS Omega, 6, 15308 (2021). DOI: 10.1021/acsomega.1c01640
- L. Xiong, P. Gong, Z. Peng, Z. Yu, Phys. Chem. Chem. Phys., 23, 23667 (2021). DOI: 10.1039/D1CP03652A
- X. Hu, Y. Ominato, M. Matsuo, arXiv: 2409.18456
- M. Sedrpooshan, C. Bulbucan, P. Ternero, P. Maltoni, C. Preger, S. Finizio, B. Watts, D. Peddis, A.M. Burke, M.E. Messing, R. Westerstrom, Nanoscale, 15, 18500 (2023). DOI: 10.1039/d3nr03878e
- E. Park, J.P. Philbin, H. Chi, J.J. Sanchez, C. Occhialini, G. Varnavides, J.B. Curtis, Z. Song, J. Klein, J.D. Thomsen, M.-G. Han, A.C. Foucher, K. Mosina, D. Kumawat, N. Gonzalez-Yepez, Y. Zhu, Z. Sofer, R. Comin, J.S. Moodera, P. Narang, F.M. Ross, Adv. Mater., 36, 2401534 (2024). DOI: 10.1002/adma.202401534
- H. Jin, M. Liu, L. Wang, W. You, K. Pei, H.-W. Cheng, R. Che, Natl. Sci. Rev., 12, nwae420 (2025). DOI: 10.1093/nsr/nwae420