Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Структурный и фазовый анализ поверхностей Ge(111)c(2x 8), Si(100)(2x 1) и BaO/Si(100) с помощью гистограмм высот в сканирующей туннельной микроскопии
Кузьмин М.В.
1, Мальков Д.А.1
1Ioffe Institute, Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, Russia 
Email: m.kuzmin@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 3 февраля 2025 г.
В окончательной редакции: 3 февраля 2025 г.
Принята к печати: 2 марта 2025 г.
Выставление онлайн: 19 мая 2025 г.
Показано, что с помощью количественного анализа распределения высот рельефа в сканирующей туннельной микроскопии можно получать данные не только о шероховатости, но и об атомном строении, морфологической структуре и фазовом составе исследуемых образцов. Приведены результаты такого анализа для хорошо известных модельных поверхностей Ge(111)c(2x 8) и Si(100)(2x 1), а также пленочной системы BaO/Si(100) при различных температурах. Ключевые слова: сканирующая туннельная микроскопия, морфология поверхности, гистограмма высот, атомная структура, фазовый состав.
- L. Persichetti, A. Sgarlata, M. Fanfoni, M. Bernardi, A. Balzarotti, Phys. Rev. B, 80, 075315 (2009). DOI: 10.1103/PhysRevB.80.075315
- Y.P. Zhang, K.S. Yong, H.S.O. Chan, G.Q. Xu, S. Chen, X.S. Wang, A.T.S. Wee, Phys. Rev. B, 75, 073407 (2007). DOI: 10.1103/PhysRevB.75.073407
- K. Sotthewes, M. Nijmeijer, H.J.W. Zandvliet, Phys. Rev. B, 103, 245311 (2021). DOI: 10.1103/PhysRevB.103.245311
- P.J. Keenan, R.M. Purkiss, T. Klamroth, P.A. Sloan, K.R. Rusimova, Nat. Commun., 15, 10322 (2024). DOI: 10.1038/s41467-024-54677-1
- X.-Y. Ren, C.-Y. Niu, W.-G. Chen, M.-S. Tang, J.-H. Cho, Phys. Chem. Chem. Phys., 18, 18549 (2016). DOI: 10.1039/C6CP01919F
- O. Ochs, N. Martsinovich, W.M. Heckl, M. Lackinger, J. Phys. Chem. Lett., 11, 7320 (2020). DOI: 10.1021/acs.jpclett.0c01882
- N. Takeuchi, A. Selloni, E. Tosatti, Phys. Rev. Lett., 69, 648 (1992). DOI: 10.1103/PhysRevLett.69.648
- J. Wang, T.A. Arias, J.D. Joannopoulos, Phys. Rev. B, 47, 10497 (1993). DOI: 10.1103/PhysRevB.47.10497
- Y. Segal, J.W. Reiner, A.M. Kolpak, Z. Zhang, S. Ismail-Beigi, C.H. Ahn, F.J. Walker, Phys. Rev. Lett., 102, 116101 (2009). DOI: 10.1103/PhysRevLett.102.116101
- M. Kuzmin, P. Laukkanen, M.P.J. Punkkinen, M. Yasir, M. Tuominen, J. Dahl, J.J.K. Lng, J. Makela, K. Kokko, Phys. Rev. B, 90, 235405 (2014). DOI: 10.1103/PhysRevB.90.235405
- J. Wang, M.R. Taaffe, INFORMS J. Comput., 27, 193 (2015). DOI: 10.1287/ijoc.2014.0616
- Y. Li, K.-T. Fang, P. He, H. Peng, Mathematics, 10, 3952 (2022). DOI: 10.3390/math10213952
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
