Особенности электродиспергирования микрокапель металлов в плазме лазерного факела
Борматов А.А.1, Кожевин В.М.1, Явсин Д.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия

Email: antonbormat@mail.ru
Поступила в редакцию: 5 августа 2024 г.
В окончательной редакции: 9 января 2025 г.
Принята к печати: 5 февраля 2025 г.
Выставление онлайн: 27 апреля 2025 г.
Рассмотрены условия развития электрокапиллярной неустойчивости на поверхности металлической капли в плазме лазерного факела. Показано, что классическое выражение для критического заряда капли (предела Рэлея) применимо только для анализа перехода в неустойчивое состояние высоких мод собственных колебаний капли. Получено модифицированное выражение для предела Рэлея с учетом этого ограничения. Ключевые слова: лазерное электродиспергирование, электрокапиллярная неустойчивость, лазерная плазма, каскадное деление.
- V.M. Kozhevin, D.A. Yavsin, V.M. Kouznetsov, V.M. Busov, V.M. Mikushkin, S.Y. Nikonov, S.A. Gurevich, A. Kolobov, J. Vac. Sci. Technol. B, 18, 1402 (2000). DOI: 10.1116/1.591393
- C.М. Невская, С.А. Николаев, Ю.Г. Носков, Т.Н. Ростовщикова, В.В. Смирнов, С.А. Гуревич, М.А. Забелин, В.М. Кожевин, П.А. Третьяков, Д.А. Явсин, А.Ю. Васильков, Кинетика и катализ, 47 (4), 657 (2006). [S.M. Nevskaya, S.A. Nikolaev, Yu.G. Noskov, T.N. Rostovshchikova, V.V. Smirnov, S.A. Gurevich, M.A. Zabelin, V.M. Kozhevin, P.A. Tret'yakov, D.A. Yavsin, A.Yu. Vasil'kov, Kinet. Catal., 47, 638 (2006). DOI: 10.1134/S0023158406040203]
- C.D. Hendricks, J.M. Schneider, Am. J. Phys., 31, 450 (1963). DOI: 10.1119/1.1969579
- А.А. Борматов, В.М. Кожевин, С.А. Гуревич, ЖТФ, 91 (5), 721 (2021). DOI: 10.21883/JTF.2021.05.50682.283-20 [A.A. Bormatov, V.M. Kozhevin, S.A. Gurevich, Tech. Phys., 66 (5), 705 (2021). DOI: 10.1134/S1063784221050078]
- R.N. Franklin, J. Phys. D, 36, R309 (2003). DOI: 10.1088/0022-3727/36/22/R01
- C.W. Shu, in Building bridges: connections and challenges in modern approaches to numerical partial differential equations. Ser. Lecture notes in computational science and engineering (Springer, Cham, 2016), vol. 114, p. 371--399. DOI: 10.1007/978-3-319-41640-3_12
- J.T. Holgate, M. Coppins, J.E. Allen, Appl. Phys. Lett., 112, 024101 (2018). DOI: 10.1063/1.5013934