Удельное сопротивление тонкопленочных электродов Si@O@Al и LiCoO2
Ministry of Science and Higher Education of the Russian Federation , State assignment of Demidov Yaroslavl State University, 0856-2020-0006
Рудый А.С.
1, Курбатов С.В.
1, Мироненко А.А.
1, Наумов В.В.
1, Егорова Ю.С.
1, Козлов Е.А.
11Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова, Ярославль, Россия
Email: rudy@uniyar.ac.ru, kurbatov-93@bk.ru, amironenko55@mail.ru, vvnau@rambler.ru, tortseva.julia@mail.ru, eakf@yandex.ru
Поступила в редакцию: 28 февраля 2023 г.
В окончательной редакции: 19 апреля 2023 г.
Принята к печати: 10 мая 2023 г.
Выставление онлайн: 28 июня 2023 г.
Приведены результаты измерения удельного сопротивления тонкопленочных структур Ti|Si@O@Al|Ti и Ti|LiCoO2|Ti методами электрохимической импеданс-спектроскопии и циклической вольтамперометрии. Обнаружено, что по данным электрохимической импеданс-спектроскопии сопротивление Ti|Si@O@Al|Ti на три порядка превышает данные, полученные методом циклической вольтамперометрии, что связано с неомичностью контакта металл-полупроводник и варисторным эффектом. Показано, что контакт Ti-LiCoO2 является омическим, а нелинейность вольт-амперной характеристики хорошо описывается варисторным эффектом. Полученные результаты имеют важное значение для интерпретации импеданс-спектров тонкопленочных твердотельных литий-ионных аккумуляторов на основе полупроводниковых материалов. Ключевые слова: тонкопленочный электрод, импеданс-спектроскопия, циклическая вольтамперометрия, переход металл-полупроводник, варисторный эффект.
- Y.-N. Zhou, M.-Z. Xue, Z.-W. Fu, J. Power Sources, 234, 310 (2013). DOI: 10.1016/j.jpowsour.2013.01.183
- X. Zuo, J. Zhu, P. Muller-Buschbaum, Y.-J. Cheng, Nano Energy, 31, 113 (2017). DOI: 10.1016/j.nanoen.2016.11.013
- K. Feng, M. Li, W. Liu, A.G. Kashkooli, X. Xiao, M. Cai, Z. Chen, Small, 14 (8), 1702737 (2018). DOI: 10.1002/smll.201702737
- W.-J. Zhang, J. Power Sources, 196 (1), 13 (2011). DOI: 10.1016/j.jpowsour.2010.07.020
- J.R. Szczech, S. Jin, Energy Environ. Sci., 4 (1), 56 (2011). DOI: 10.1039/C0EE00281J
- B. Liang, Y. Liu, Y. Xu, J. Power Sources, 267, 469 (2014). DOI: 10.1016/j.jpowsour.2014.05.096
- A.A. Mironenko, I.S. Fedorov, A.S. Rudy, V.N. Andreev, D.Yu. Gryzlov, T.L. Kulova, A.M. Skundin, Monatsh. Chem., 150 (10), 1753 (2019). DOI: 10.1007/s00706-019-02497-1
- А.С. Рудый, С.В. Курбатов, А.А. Мироненко, В.В. Наумов, Ю.С. Егорова, Письма в ЖТФ, 49 (7), 20 (2023). DOI: 10.21883/PJTF.2023.07.54916.19431
- А.С. Рудый, А.Б. Чурилов, А.А. Мироненко, В.В. Наумов, С.В. Курбатов, Е.А. Козлов, Письма в ЖТФ, 48 (17), 9 (2022). DOI: 10.21883/PJTF.2022.17.53279.19276 [A.S. Rudy, A.B. Churilov, A.A. Mironrenko, V.V. Naumov, S.V. Kurbatov, E.A. Kozlov, Tech. Phys. Lett., 48 (9), 7 (2022). DOI: 10.21883/TPL.2022.09.55072.19276]
- Д.Г. Келлерман, В.Р. Галахов, А.С. Семенова, Я.Н. Блиновсков, О.Н. Леонидова, ФТТ, 48 (3), 510 (2006). https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/3349 [D.G. Kellerman, V.R. Galakhov, A.S. Semenova, Ya.N. Blinovskov, O.N. Leonidova, Phys. Solid State, 48 (3), 548 (2006). DOI: 10.1134/S106378340603022X]
- Y. Iriyama, T. Kako, C. Yada, T. Abe, Z. Ogumi, J. Power Sources, 146 (1-2), 745 (2005). DOI: 10.1016/j.jpowsour.2005.03.073
- Y. Iriyama, T. Kako, C. Yada, T. Abe, Z. Ogumi, Solid State Ion., 176 (31-34), 2371 (2005). DOI: 10.1016/j.ssi.2005.02.025
- S.D. Fabre, D. Guy-Bouyssou, P. Bouillon, F. Le Cras, C. Delacourta, J. Electrochem. Soc., 159 (2), A104 (2012). DOI: 10.1149/2.041202jes
- S. Larfaillou, D. Guy-Bouyssou, F. Le Cras, S. Franger, ECS Trans., 61 (27), 165 (2014). DOI: 10.1149/06127.0165ecst
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
