Вышедшие номера
Исследование методом спектроскопии поглощения рентгеновских лучей структуры наночастиц Zn в матрице Si после облучения быстрыми ионами Хе
Храмов Е.В.1,2, Привезенцев В.В.3, Куликаускас В.С. 4
1Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Москва, Россия
2Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова Российской академии наук, Москва, Россия
3Научно-исследовательский институт системных исследований РАН, Москва, Россия
4Научно-исследовательский институт ядерной физики им. Д.В. Скобельцына Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
Email: evxramov@gmail.com, vskulikauskas@gmail.com
Поступила в редакцию: 8 ноября 2022 г.
В окончательной редакции: 29 марта 2023 г.
Принята к печати: 3 апреля 2023 г.
Выставление онлайн: 4 июня 2023 г.

Методом спектроскопии поглощения рентгеновских лучей на K-крае Zn исследуется изменение структуры наночастиц Zn в матрице Si после облучения быстрыми ионами Хе. По данным XANES в образцах с разными флюенсами Хе цинк имеет сходное локальное окружение и находится в металлической фазе. По данным EXAFS интенсивный пик фурье-трансформант находится в диапазоне 2-3 Angstrem. После облучения Хе интенсивность этого пика снижается по сравнению с таковой в случае имплантированного образца, что указывает на очень сильное разупорядочение локальной структуры, характерное для наночастиц с размером менее 5 nm. Ключевые слова: кремний, имплантация Zn, облучение быстрыми тяжелыми ионами, наночастицы, XANES, EXAFS.
  1. C. D'Orleans, J.P. Stoquert, C. Estournes, C. Cerruti, J.J. Grob, J.L. Guille, F. Haas, D. Muller, M. Richard-Plouet, Phys. Rev. B, 67 (22), 220101R (2003). DOI: 10.1103/PhysRevB.67.220101
  2. Ion beam modification of solids: ion-solid interaction and radiation damage, ed by W. Wesch, E. Wendler. Springer Ser. in Surface Sciences (Springer, Cham, 2016), vol. 61
  3. Ф.Ф. Комаров, О.В. Мильчанин, В.А. Скуратов, М.А. Моховиков, A. Janse van Vuuren, J.N. Neethling, E. Wendler, Л.А. Власукова, И.Н. Пархоменко, В.Н. Ювченко, Изв. РАН. Сер. физ., 80 (2), 160 (2016). DOI: 10.7868/S0367676516020149 [F.F. Komarov, O.V. Milchanin, V.A. Skuratov, M.A. Makhavikou, A. Janse van Vuuren, J.N. Neethling, E. Wendler, L.A. Vlasukova, I.N. Parkhomenko, V.N. Yuvchenko, Bull. Russ. Acad. Sci. Phys., 80 (2), 141 (2016). DOI: 10.3103/S106287381602012X]
  4. Ф.Ф. Комаров, УФН,  173 (12), 1287 (2003). DOI: 10.3367/UFNr.0173.200312b.1287 [F. Komarov, Phys. Usp., 46 (12), 1253 (2003). DOI: 10.1070/PU2003v046n12ABEH001286]
  5. Ф.Ф. Комаров, УФН,  187 (5), 465 (2017). DOI: 10.3367/UFNr.2016.10.038012 [F. Komarov, Phys. Usp., 60 (5), 435 (2017). DOI: 10.3367/UFNe.2016.10.038012]
  6. V.V. Privezentsev, V.A. Skuratov, V.S. Kulikauskas, O.S. Zilova, A.A. Burmistrov, N.Yu. Tabachkova, K.B. Eidelman, K.D. Shcherbachev, Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. B, 460, 56 (2019). DOI: 10.1016/j.nimb.2019.01.040
  7. A.A. Chernyshov, A.A. Veligzhanin, Y.V. Zubavichus, Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. A, 603 (1-2), 95 (2009). DOI: 10.1016/j.nima.2008.12.167
  8. Н.Н. Трофимова, А.А. Велигжанин, В.Ю. Мурзин, А.А. Чернышов, Е.В. Храмов, В.Н. Заблуда, И.С. Эдельман, Ю.Л. Словохотов, Я.В. Зубавичус, Рос. нанотехнологии, 8 (5-6), 108 (2013). [N.N. Trofimova, A.A. Veligzhanin, V.Yu. Murzin, A.A. Chernyshov, E.V. Khramov, V.N. Zabluda, I.S. Edel'man, Yu.L. Slovokhotov, Ya.V. Zubavichus, Nanotechnol. Russia, 8 (5-6), 396 (2013). DOI: 10.1134/S1995078013030191]
  9. B. Ravel, M. Newville, J. Synchrotron. Rad., 12 (4), 537 (2005). DOI: 10.1107/S0909049505012719
  10. M. Newville, J. Synchrotron. Rad. 8 (2), 322 (2001). DOI: 10.1107/SO909049500016964

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.