Методы диагностики локальных напряжений/деформаций в алмазе при комнатной температуре на основе оптического детектирования магнитного резонанса NV-дефектов
Российский научный фонд, 20-12-00216
Бабунц Р.А.
1, Гурин А.С.
1, Бундакова А.П.
1, Музафарова М.В.
1, Анисимов А.Н.
1, Баранов П.Г.
11Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: roman.babunts@gmail.com, sasha.gurin@mail.ioffe.ru, marina.muzafarova@mail.ioffe.ru, Andrey.Anisimov@mail.ioffe.ru, pavel.baranov@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 11 октября 2022 г.
В окончательной редакции: 11 октября 2022 г.
Принята к печати: 7 ноября 2022 г.
Выставление онлайн: 10 декабря 2022 г.
Предложен метод диагностики локальных напряжений/деформаций в алмазе при комнатной температуре на основе оптического детектирования магнитного резонанса NV-дефектов в нулевом магнитном поле с применением низкочастотной модуляции мощности СВЧ. Ключевые слова: NV-дефект, алмаз, оптически детектируемый магнитный резонанс.
- A. Gruber, A. Drabenstedt, C. Tietz, L. Fleury, J. Wrachtrup, C. Von Borczyskowski, Science, 276, 2012 (1997). DOI: 10.1126/science.276.5321.2012
- P.G. Baranov, H.-J. von Bardeleben, F. Jelezko, J. Wrachtrup, Magnetic resonance of semiconductors and their nanostructures: basic and advanced applications. Springer Ser. in Materials Science (Springer-Verlag, Vienna, 2017), vol. 253
- M.W. Doherty, V.V. Struzhkin, D.A. Simpson, L.P. McGuinness, Y. Meng, A. Stacey, T.J. Karle, R.J. Hemley, N.B. Manson, L.C.L. Hollenberg, S. Prawer, Phys. Rev. Lett., 112, 047601 (2014). DOI: 10.1103/PhysRevLett.112.047601
- J. Teissier, A. Barfuss, P. Appel, E. Neu, P. Maletinsky, Phys. Rev. Lett., 113, 020503 (2014). DOI: 10.1103/PhysRevLett.113.020503
- P. Ovartchaiyapong, K.W. Lee, B.A. Myers, A.C. Bleszynski Jayich, Nature Commun., 5, 4429 (2014). DOI: 10.1038/ncomms5429
- M.E. Trusheim, D. Englund, New J. Phys., 18, 123023 (2016). DOI: 10.1088/1367-2630/aa5040
- S. Knauer, J.P. Hadden, J.G. Rarity, npj Quantum Information, 6, 50 (2020). DOI: 10.1038/s41534-020-0277-1
- П.Г. Баранов, А.Я. Вуль, С.В. Кидалов, А.А. Солтамова, Ф.М. Шахов, Способ получения алмазной структуры с азотно-вакансионными дефектами, патент РФ N 2448900 (приоритет изобретения 28.07.2010, зарегистрировано в Госреестре 27.04.2012)
- C. Bradac, T. Gaebel, N. Naidoo, M.J. Sellars, J. Twamley, L.J. Brown, A.S. Barnard, T. Plakhotnik, A.V. Zvyagin, J.R. Rabeau, Nature Nanotechnol., 5, 345 (2010). https://www.nature.com/articles/nnano.2010.56
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
