Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Исследование параметров самосфокусированного электронного пучка, выведенного за анод вакуумного диода
Переводная версия: 10.21883/TPL.2022.02.53580.19053 
Олешко В.И.
1, Nguyen V.V.
1
1Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Томск, Россия 
Email: oleshko@tpu.ru
Поступила в редакцию: 14 октября 2021 г.
В окончательной редакции: 29 октября 2021 г.
Принята к печати: 29 октября 2021 г.
Выставление онлайн: 18 декабря 2021 г.
Исследованы параметры сильноточного электронного пучка, выведенного из зоны самофокусировки через отверстие в аноде в вакуумную камеру. Параметры пучка определены исходя из измерения зон пространственного распределения разрушений и свечения, возникающих в образцах полиметилметакрилата, установленных на различных расстояниях от анода (автографов электронного пучка). Обнаружено формирование двух электронных пучков: самосфокусированного с высокой плотностью энергии, распространяющегося вдоль оси конуса, обращенного основанием к аноду, с углом при вершине ~ 7o и высокоэнергетического пучка низкой плотности, распространяющегося в полом усеченном конусе и окружающего самосфокусированный. Измерены осциллограммы тока и энергия электронных пучков. Ключевые слова: вакуумный диод, электронный пучок, филаментация, самофокусировка, полиметилметакрилат, разрушение, свечение.
- D.D. Hinshelwood, R.J. Allen, R.J. Commisso, G. Cooperstein, B.M. Huhman, D. Mosher, D.P. Murphy, P.F. Ottinger, J.W. Schumer, S.B. Swanekamp, S.J. Stephanakis, B.V. Weber, F.C. Young, I. Crotch, J. O'Malley, J.R. Threadgold, IEEE Trans. Plasma Sci., 35 (3), 565 (2007). DOI: 10.1109/TPS.2007.895227
- В.Е. Фортов, Физика высоких плотностей энергии (Физматлит, М., 2013)
- Б.А. Демидов, В.П. Ефремов, В.А. Петров, А.Н. Мещеряков, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, N 9, 18 (2009). [B.A. Demidov, V.P. Efremov, V.A. Petrov, A.N. Mescheryakov, J. Synch. Investig., 3 (5), 673 (2009). DOI: 10.1134/S1027451009050036
- Э.Э. Тарумов, Генерация и фокусировка сильноточных релятивистских электронных пучков (Энергоатомиздат, М., 1990)
- В.И. Олешко, Пороговые процессы в твердых телах при взаимодействии с сильноточными электронными пучками, автореф. докт. дис. (ТПУ, Томск, 2009)
- S. Anishchenko, V. Baryshevsky, N. Belous, A. Gurinovich, E. Gurinovich, E. Gurnevich, P. Molchano, IEEE Trans. Plasma Sci., 45 (10), 2739 (2017). DOI: 10.1109/TPS.2017.2707591
- V.I. Baryshnikov, V.L. Paperny, Phys. Plasmas., 25 (8), 083106 (2018). DOI: 10.1088/1361-6463/aa85c4
- М.И. Ломаев, В.Ф. Тарасенко, А.В. Дятлов, Изв. вузов. Физика, 62 (6), 68 (2019). DOI: 10.17223/00213411/62/6/68 [M.I. Lomaev, V.F. Tarasenko, A.V. Dyatlov, Russ. Phys. J., 62 (6), 996 (2019). DOI: 10.17223/00213411/62/6/68]
- В.И. Олешко, В.Ф. Тарасенко, А.Г. Бураченко, V.V. Nguyen, Письма в ЖТФ, 45 (7), 3 (2019). DOI: 10.21883/PJTF.2019.07.47526.17640 [V.I. Oleshko, V.F. Tarasenko, A.G. Burachenko, V.V. Nguyen, Tech. Phys. Lett., 45 (4), 309 (2019). DOI: 10.1134/S1063785019040023]
- Г.А. Месяц, В.Г. Шпак, Письма в ЖТФ, 3 (14), 708 (1977)
- А.А. Жерлицын, Б.М. Ковальчук, Н.Н. Педин, ЖТФ, 84 (4), 132 (2014). [A.A. Zherlitsyn, B.M. Koval'chuk, N.N. Pedin, Tech. Phys., 59 (4), 600 (2014). DOI: 10.1134/S1063784214040276]
- V. Oleshko, A. Yakovlev, V. Tarasenko, V. Nguyen, in Proc. 2020 7th Int. Congress on energy fluxes and radiation effects (EFRE) (IEEE, 2020), p. 906. DOI: 10.1109/EFRE47760.2020.9242003
- А.И. Акишин, Космическое материаловедение (НИИЯФ МГУ, М., 2007)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
