Влияние латерального оптического ограничения на характеристики вертикально-излучающих лазеров cпектрального диапазона 1.55 μm с заращенным туннельным переходом
Блохин С.А.
1, Бобров М.А.
1, Блохин А.А.
1, Малеев Н.А.
1, Кузьменков А.Г.
2, Васильев А.П.
2, Рочас С.С.
3, Бабичев А.В.
3, Новиков И.И.
3, Карачинский Л.Я.
3, Гладышев А.Г.
4, Денисов Д.В.
5, Воропаев К.O.
6, Егоров А.Ю.
4, Устинов В.М.
21Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
3Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
4ООО "Коннектор Оптикс", Санкт-Петербург, Россия
5Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
6АО «ОКБ-Планета», Великий Новгород, Россия
Email: blokh@mail.iioffe.ru, bobrov.mikh@gmail.com, bloalex91@yandex.ru, Maleev@beam.ioffe.ru, kuzmenkov@mail.ioffe.ru, vasiljev@mail.ioffe.ru, stanislav_rochas@itmo.ru, a.babichev@mail.ioffe.ru, Innokenty.Novikov@connector-optics.com, leonid.karachinsky@connector-optics.com, andrey.gladyshev@connector-optics.com, dmitry.denisov@connector-optics.com, voropaevko@okbplaneta.ru, anton@beam.ioffe.ru, vmust@beam.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 30 июня 2021 г.
В окончательной редакции: 19 июля 2021 г.
Принята к печати: 20 июля 2021 г.
Выставление онлайн: 17 сентября 2021 г.
Исследовано влияние латерального оптического ограничения на статические и спектральные характеристики вертикально-излучающих лазеров спектрального диапазона 1.55 μm с заращенным туннельным переходом (ЗТП) n++-InGaAs/p++-InGaAs/p++-InAlGaAs, реализованных с помощью молекулярно-пучковой эпитаксии и технологии спекания пластин. Обнаружено, что в реализованных лазерах из-за относительно слабого оптического ограничения в латеральном направлении одномодовый режим генерации поддерживается при размерах мезы ЗТП вплоть до 8 μm, однако при размерах мезы ЗТП менее 7 μm возникает эффект насыщающегося поглотителя. Рост оптического ограничения за счет увеличения глубины травления туннельного перехода ведет к подавлению эффекта насыщающегося поглотителя при размерах мезы ЗТП 5-6 μm, но одновременно ограничивает максимальную оптическую мощность в одномодовом режиме лазерной генерации. По результатам анализа увеличение спектрального рассогласования максимума спектра усиления активной области и резонансной длины волны лазера до уровня ~ 35-50 nm позволит подавить нежелательный эффект насыщающегося поглотителя в широком диапазоне размеров мез ЗТП при сохранении одномодового режима генерации. Ключевые слова: вертикально-излучающий лазер, спекание пластин, молекулярно-пучковая эпитаксия, одномодовый режим, насыщающийся поглотитель.
- A. Caliman, A. Mereuta, G. Suruceanu, V. Iakovlev, A. Sirbu, E. Kapon, Opt. Express, 19 (18), 16996 (2011). DOI: 10.1364/OE.19.016996
- D. Ellafi, V. Iakovlev, A. Sirbu, G. Suruceanu, Z. Mickovic, A. Caliman, A. Mereuta, E. Kapon, IEEE J. Sel. Top. Quant. Electron., 21 (6), 414 (2015). DOI: 10.1109/jstqe.2015.2412495
- A.V. Babichev, L.Ya. Karachinsky, I.I. Novikov, A.G. Gladyshev, S.A. Blokhin, S. Mikhailov, V. Iakovlev, A. Sirbu, G. Stepniak, L. Chorchos, J.P. Turkiewicz, K.O. Voropaev, A.S. Ionov, M. Agustin, N.N. Ledentsov, A.Yu. Egorov, IEEE J. Sel. Top. Quant. Electron., 53 (6), 2400808 (2017). DOI: 10.1109/JQE.2017.2752700
- C. Lauer, M. Ortsiefer, R. Shau, J. Rosskopf, G. Bohm, R. Meyer, M.C. Amann, Phys. Status Solidi C, 1 (8), 2183 (2004). DOI: 10.1002/pssc.200404770
- M. Muller, W. Hofmann, T. Grundl, M. Horn, P. Wolf, R.D. Nagel, E. Ronneberg, G. Bohm, D. Bimberg, M.-C. Amann, IEEE J. Sel. Top. Quant. Electron., 17 (5), 1158 (2011). DOI: 10.1109/JSTQE.2011.2109700
- T. Grundl, P. Debernardi, M. Muller, C. Grasse, P. Ebert, K. Geiger, M. Ortsiefer, G. Bohm, R. Meyer, M.-C. Amann, IEEE J. Sel. Top. Quant. Electron., 19 (4), 1700913 (2013). DOI: 10.1109/JSTQE.2013.2244572
- M. Ortsiefer, R. Shau, G. Bohm, F. Kohler, M.C. Amann, Appl. Phys. Lett., 76 (16), 2179 (2000). DOI: 10.1049/el:20020819
- D. Keiper, R. Westphalen, G. Landgren, J. Cryst. Growth, 197 (1-2), 25 (1999). DOI: 10.1016/S0022-0248(98)00903-8
- N. Volet, T. Czyszanowski, J. Walczak, L. Mutter, B. Dwir, Z. Mickovic, P. Gallo, A. Caliman, A. Sirbu, A. Mereuta, V. Iakovlev, E. Kapon, Opt. Express, 21 (22), 26983 (2013). DOI: 10.1364/OE.21.026983
- С.А. Блохин, М.А. Бобров, Н.А. Малеев, А.А. Блохин, А.Г. Кузьменков, А.П. Васильев, С.С. Рочас, А.Г. Гладышев, А.В. Бабичев, И.И. Новиков, Л.Я. Карачинский, Д.В. Денисов, К.O. Воропаев, А.С. Ионов, А.Ю. Егоров, В.М. Устинов, Письма в ЖТФ, 46 (17), 21 (2020). DOI: 10.21883/PJTF.2020.17.49888.18393 [S.A. Blokhin, M.A. Bobrov, N.A. Maleev, A.A. Blokhin, A.G. Kuz'menkov, A.P. Vasil'ev, S.S. Rochas, A.G. Gladyshev, A.V. Babichev, I.I. Novikov, L.Ya. Karachinsky, D.V. Denisov, K.O. Voropaev, A.S. Ionov, A.Yu. Egorov, V.M. Ustinov, Tech. Phys. Lett., 46 (9), 854 (2020). DOI: 10.1134/S1063785020090023]
- S.A. Blokhin, A.V. Babichev, A.G. Gladyshev, L.Ya. Karachinsky, I.I. Novikov, A.A. Blokhin, S.S. Rochas, D.V. Denisov, K.O. Voropaev, A.S. Ionov, A.Yu. Egorov, Electron. Lett. (First published: 3 June 2021). DOI: 10.1049/ell2.12232
- С.А. Блохин, В.Н. Неведомский, М.А. Бобров, Н.А. Малеев, А.А. Блохин, А.Г. Кузьменков, А.П. Васильев, С.С. Рочас, А.В. Бабичев, А.Г. Гладышев, И.И. Новиков, Л.Я. Карачинский, Д.В. Денисов, К.O. Воропаев, А.С. Ионов, А.Ю. Егоров, В.М. Устинов, ФТП, 54 (10), 1088 (2020). DOI: 10.21883/FTP.2020.10.49947.9463 [S.A. Blokhin, S.N. Nevedomsky, M.A. Bobrov, N.A. Maleev, A.A. Blokhin, A.G. Kuzmenkov, A.P. Vasyl'ev, S.S. Rohas, A.V. Babichev, A.G. Gladyshev, I.I. Novikov, L.Ya. Karachinsky, D.V. Denisov, K.O. Voropaev, A.S. Ionov, A.Yu. Egorov, V.M. Ustinov, Semiconductors, 54 (10), 1276 (2020). DOI: 10.1134/S1063782620100048]
- K.O. Voropaev, B.I. Seleznev, A.Yu. Prokhorov, A.S. Ionov, S.A. Blokhin, J. Phys.: Conf. Ser., 1658, 12069 (2020). DOI: 10.1088/1742-6596/1658/1/012069
- G.R. Hadley, Opt. Lett., 20 (13), 1483 (1995). DOI: 10.1364/OL.20.001483
- G.P. Agrawal, Fiber-optic communication systems (Wiley, N.Y., 2010)
- R. Michalzik, VCSELs: fundamentals, technology and applications of vertical-cavity surface-emitting lasers (Springer-Verlag, Berlin, 2013). DOI: 10.1007/978-3-642-24986-0
- D.G. Deppe, J. Leshin, J. Leshin, L. Eifert, F. Tucker, T. Hillyer, Electron. Lett., 53 (24), 1598 (2017). DOI: 10.1049/el.2017.2780
- С.А. Блохин, М.А. Бобров, А.А. Блохин, А.П. Васильев, А.Г. Кузьменков, Н.А. Малеев, С.С. Рочас, А.Г. Гладышев, А.В. Бабичев, И.И. Новиков, Л.Я. Карачинский, Д.В. Денисов, К.O. Воропаев, А.С. Ионов, А.Ю. Егоров, В.М. Устинов, Письма в ЖТФ, 46 (24), 49 (2020). DOI: 10.21883/PJTF.2020.24.50430.18522 [S.A. Blokhin, M.A. Bobrov, A.A. Blokhin, A.P. Vasil'ev, A.G. Kuz'menkov, N.A. Maleev, S.S. Rochas, A.G. Gladyshev, A.V. Babichev, I.I. Novikov, L.Ya. Karachinsky, D.V. Denisov, K.O. Voropaev, A.S. Ionov, A.Yu. Egorov, V.M. Ustinov, Tech. Phys. Lett., 46 (12), 1257 (2020). DOI: 10.1134/S1063785020120172].
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.