Вышедшие номера
Влияние интерфейсных эффектов на электронный спектр структур GaAs/AlGaAs, используемых для создания фотоприемных устройств среднего ИК-диапазона
Переводная версия: 10.1134/S1063785020030256
Российский научный фонд, 19-79-30086
Кривобок В.С. 1, Пашкеев Д.А. 1,2, Литвинов Д.А. 1, Григорьева Л.Н. 1,3, Колосов С.А. 1
1Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук, Москва, Россия
2АО "НПО Орион", Москва, Россия
3Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва, Россия
Email: krivobokvs@lebedev.ru, d.pashkeev@gmail.com, litvinovd@lebedev.ru, ln.grigorjeva@physics.msu.ru, kolosovsa@lebedev.ru
Поступила в редакцию: 22 ноября 2019 г.
В окончательной редакции: 22 ноября 2019 г.
Принята к печати: 9 декабря 2019 г.
Выставление онлайн: 18 февраля 2020 г.

Продемонстрировано влияние переходных процессов, возникающих в ростовой камере установки молекулярно-пучковой эпитаксии, на структуру интерфейсов и электронный спектр квантовых ям GaAs/AlxGa1-xAs, используемых для изготовления фотоприемных устройств (ФПУ) среднего ИК-диапазона. Показано, что такие процессы приводят к низкочастотному сдвигу рабочего перехода ФПУ, появлению в спектрах поглощения межзонного перехода, запрещенного правилами отбора, уменьшению энергетического сдвига между уровнями размерного квантования, сформированными легкими и тяжелыми дырками. Перечисленные эффекты обеспечивают простой подход для бесконтактной оценки качества интерфейсов в гетероструктурах GaAs/AlxGa1-xAs для ФПУ. Ключевые слова: ИК-детектор, гетероструктура, квантовая яма, низкотемпературная фотолюминесценция.