Влияние потока низкотемпературной плазмы азота на морфологию, электрические и УФ-проводящие свойства пленок ZnO на сапфире
Министерство науки и высшего образования РФ , Государственное задание ФГБУ ОИВТ РАН
Министерство науки и высшего образования России , Государственное задание ФНИЦ «Кристаллография и фотоника»
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), 18-29-24203 мк
Российский фонд фундаментальных исследований (РФФИ), 20-08-00598
Гаджиев М.Х.
1, Тюфтяев А.С.
1, Муслимов А.Э.
2, Каневский В.М.
2, Исмаилов А.М.
3, Бабаев В.А.
31Объединенный институт высоких температур РАН, Москва, Россия
2Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН, Москва, Россия
3Дагестанский государственный университет, Махачкала, Россия
Email: makhach@mail.ru, astpl@mail.ru, amuslimov@mail.ru, egdada@mail.ru
Поступила в редакцию: 27 июня 2019 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2019 г.
Приведены результаты исследования влияния потока высокоэнтальпийной низкотемпературной плазмы азота, генерируемого плазмотроном постоянного тока, на морфологию, электрические и УФ-проводящие свойства пленок ZnO на сапфире. Показано, что сопротивление пленок ZnO после обработки плазмой азота возрастает (максимально в 104 раз) и они демонстрируют отчетливый отклик на ультрафиолетовое освещение. УФ-чувствительность по току и контрастность тока образцов при 6 V имеют величины порядка 3.6· 10-5 A/W и 16 соответственно. Время нарастания и спада фототока ~ 0.45 s. Ключевые слова: оксид цинка, низкотемпературная плазма, плазмотрон.
- Mishra Y.K., Adelung R. // Mater. Today. 2018. V. 21. P. 631--651
- Faraji N., Ulrich C., Wolff N., Kienle K., Adelung R., Kumar Y., Seidel J. // Adv. Electron. Mater. 2016. V. 2. P. 1600138
- Desai M.A., Sartale S. // Cryst. Growth Design. 2015. V. 15. P. 4813--4820
- Gimenez A.J., Yanez-Limon J.M., Seminario J.M. // J. Phys. Chem. C. 2011. V. 115. P. 282--287
- Gupta A., Arunachalam Sh., Cloutier S., Izquierdo R. // ACS Photon. 2018. V. 5. P. 3923--3929
- Postica V., Paulowicz I., Lupan O., Schutt F., Wolff N., Cojocaru A., Mishra K.Y., Kienle L., Adelung R. // Vacuum. 2018. V. 166. P. 393--398
- Liu W.W., Yao B., Zhang Z.Z., Li Y.F., Li B.H., Shan C.H., Zhang J.Y., Chen D.Z., Fan X.W. // J. Appl. Phys. 2011. V. 109. P. 093518
- Gorbatenko L.S., Novodvorsky O.A., Panchenko V.Ya., Khramova O.D., Cherebilo Ye.A., Lotin A.A., Wenzel C., Trumpaicka N., Bartha J.W. // Laser Phys. 2009. V. 19. P. 1152--1158
- Wang D., Zhao D., Wang F., Yao B., Shen D. // Phys. Status Solidi A. 2015. V. 212. P. 846--850
- Власов В.П., Буташин А.В., Каневский В.М., Муслимов А.Э., Бабаев В.А., Исмаилов А.М., Рабаданов М.Х. // Кристаллография. 2014. Т. 59. N 3. С. 467--470
- Исакаев Э.Х., Синкевич О.А., Тюфтяев А.С., Чиннов В.Ф. // ТВТ. 2010. Т. 48. N 1. С. 105--134
- Гаджиев М.Х., Исакаев Э.Х., Тюфтяев А.С., Юсупов Д.И. // Письма в ЖТФ. 2016. Т. 42. В. 2. С. 44--49
- Yang Z., Wang M., Song X., Yan G., Dingband Y., Baic J. // J. Mater. Chem. C. 2014. V. 2. P. 4312--4319
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.