Вышедшие номера
Диэлектрическая спектроскопия пленок VO2:Ge
Переводная версия: 10.1134/S1063785019060087
Ильинский А.В.1, Кастро Р.А.2, Кононов А.А.2, Пашкевич М.Э.3, Попова И.О.2, Шадрин Е.Б.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, Санкт-Петербург, Россия
3Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия
Email: Shadr@solid.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 5 марта 2019 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2019 г.

В интервале 10-106 Hz при 300 K исследованы частотные зависимости комплексного импеданса Z, диэлектрической проницаемости ε и тангенса угла диэлектрических потерь tgdelta тонких (1400 Angstrem) пленок V1-xGexO2 (для x=0 и 0.03). Установлено, что при x=0 частотная зависимость tgdelta имеет максимум на частоте 100 kHz, тогда как при x=0.03 обнаруживается дополнительный максимум в области 10 kHz. Коул-Коул-диаграмма пленок VO2:Ge также приобретает особенность в виде дополнительной полуокружности. Предложена комплексная эквивалентная электрическая схема образца, позволившая благодаря рекордно высокой чувствительности метода диэлектрической спектроскопии обнаружить существование в пленке V0.97Ge0.03O2 двух совокупностей нанокристаллитов VO2: легированных Ge и практически нелегированных. Ключевые слова: диоксид ванадия VO2, легированные пленки VO2:Ge, корреляционные эффекты, диэлектрическая спектроскопия, электронная микроскопия.
  1. Velichko A., Belyaev M., Putrolainen V. // Int. J. Mod. Phys. 2016. V. 31. N 2. P. 1234
  2. Олейник А.С. Пленки диоксида ванадия в устройствах индикаторной техники и микроэлектроники. Автореф. докт. дис. Саратов, 2008. 36 с
  3. Данилов О.Б., Климов В.А., Михеева О.П., Сидоров А.И., Тульский С.А., Шадрин Е.Б., Ячнев И.Л. // ЖТФ. 2003. Т. 73. В. 1. С. 79--85
  4. Хахаев И.А., Чудновский Ф.А., Шадрин Е.Б. // ФТТ. 1994. Т. 36. В. 6. С. 1643--1649
  5. Wang N., Duchamp M., Xue C., Dunin-Borkowski R.E., Liu G., Long Y. http://dx.doi.org/10.1002/admi.201600164
  6. Phillips T.E., Murphy R.A., Poehler T.O. // Mater. Res. Bull. 1987. V. 22. N 8. P. 1113--1123
  7. Wang N., Duchamp M., Dunin-Borkowski R.E., Liu S., Zeng X.T., Cao X., Long Y. // Langmuir. 2016. V. 32. N 3. P. 759--764. DOI: 10.1021/acs.langmuir.5b04212
  8. Krammer A., Magrez A., Vitale W.A., Mocny P., Jeanneret P., Guibert E., Whitlow H.J., Ionescu A.M., Schuler A. // J. Appl. Phys. 2017. V. 122. N 4. P. 045304
  9. Зейгарник Ю.А., Ивочкин Ю.П., Григорьев В.С., Оксман А.А. // ТВТ. 2008. Т. 46. В. 5. С. 797--800
  10. Ильинский А.В., Кастро Р.А., Никулин Е.И., Шадрин Е.Б. // ЖТФ. 2018. Т. 88. В. 6. С. 877--882
  11. Ильинский А.В., Пашкевич М.Э., Шадрин Е.Б. // Научно-технические ведомости СПбГПУ. Физ.-мат. науки. 2017. Т. 10. В. 3. С. 9--17
  12. Gatti M., Bruneva F., Olevano V., Reining L. // Phys. Rev. Lett. 2007. V. 99. N 26. P. 266402 (1--4)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.