Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2018, выпуск 22 » Статья стр. 19
<<<>>>
Оптическая характеризация дефектности двумерных кристаллитов MoS2
DOI: 10.21883/PJTF.2018.22.46917.16949
Переводная версия: 10.1134/S106378501811024X
Лавров С.Д. 1, Шестакова А.П. 1, Авдижиян А.Ю. 1, Мишина Е.Д. 1
1МИРЭА - Российский технологический университет, Москва, Россия
Email: sdlavrov@mail.ru, nastik_shestakova@mail.ru, artur-333@yandex.ru
Поступила в редакцию: 3 июля 2017 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2018 г.
PDF версия
Представлены результаты исследований двумерных кристаллитов дисульфида молибдена, полученных методом механической эксфолиации и химического осаждения из газовой фазы. Показано, что оба метода позволяют получить отдельные кристаллиты моноатомной толщины со схожими оптическими свойствами. Обнаружено, что кристаллиты, созданные при помощи метода осаждения из газовой фазы, обладают большей концентрацией дефектов по сравнению с кристаллитами, полученными методом механической эксфолиации.
  1. Tsai M.-L., Su S.-H., Chang J.-K., Tsai D.-S., Chen C.-H., Wu C.-I., Li L.-J., Chen L.-J., He J.-H. // ACS Nano. 2014. V. 8. N 8. P. 8317--8322
  2. Late D.J., Doneux T., Bougouma M. // Appl. Phys. Lett. 2014. V. 105. N 23. P. 233103
  3. Zhang W., Huang J.K., Chen C.H., Chang Y.H., Cheng Y.J., Li L.J. // Adv. Mater. 2013. V. 25. N 25. P. 3456--3461
  4. Karande S.D., Kaushik N., Narang D.S., Late D., Lodha S. // Appl. Phys. Lett. 2016. V. 109. N 14. P. 142101
  5. Ubaldini A., Jacimovic J., Ubrig N., Giannini E. // Cryst. Growth Design. 2013. V. 13. N 10. P. 4453--4459
  6. Geim A.K., Novoselov K.S. // Nature Mater. 2007. V. 6. N 3. P. 183--191
  7. Jeon J., Jang S.K., Jeon S.M., Yoo G., Jang Y.H., Park J.-H., Lee S. // Nanoscale. 2015. V. 7. N 5. P. 1688--1695
  8. Лавров С.Д. // Российский технологический журнал. 2016. Т.4. N 4. С. 11--20
  9. Mak K.F., Lee C., Hone J., Shan J., Heinz T.F. // Phys. Rev. Lett. 2010. V. 105. N 13. P. 2--5
  10. Мишина Е.Д., Шерстюк Н.Э., Шестакова А.П., Лавров С.Д., Семин С.В., Сигов А.С., Митиоглу А., Ангел С., Кулюк Л. // ФТП. 2015. Т. 49. N 6. С. 810--816
  11. Yu J., Li J., Zhang W., Chang H. // Chem. Sci. 2015. V. 6. N 12. P. 6705--6716
  12. Plechinger G., Mann J., Preciado E., Barroso D., Nguyen A., Eroms J., Schuller C., Bartels L., Korn T. // Semicond. Sci. Technol. 2014. V. 29. N 6. P. 064008
  13. Wu S., Huang C., Aivazian G., Ross J.S., Cobden D.H., Xu X. // ACS Nano. 2013. V. 7. N 3. P. 2768--2772
  14. Ly T.H., Chiu M.-H., Li M.-Y., Zhao J., Perello D.J., Cichocka M.O., Oh H.M., Chae S.H., Jeong H.Y., Yao F., Li L.-J., Lee Y.H. // ACS Nano. 2014. V. 8. N 11. P. 11401--11408

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme